中古 MATSUSHITA M-515L-II #9027576 を販売中

MATSUSHITA M-515L-IIは、半導体デバイスの製造に使用されるマスクやウェーハの自動検査用に設計された先進的な装置です。システムは、洗練された光学および画像処理ユニット、オペレータコントロールパネル、グラフィカルユーザーインターフェイスで構成されています。光学機械はテストの下でサンプル、ビームスプリッターミラー、円偏光フィルター、サンプル移動テーブルおよび統合された画像処理用具が付いているCCDカメラに光の配列を出す光源で構成されます。CCDカメラの空間分解能は0。1でµm試料の欠陥を高精度に評価することができます。M-515L-IIは、粒子の汚染、汚染、剥離、傷、ピット、その他の表面の不規則性など、さまざまな種類の欠陥を同時に検出できるマルチソリューション・フィルタ・アセットを備えています。また、製造されたマスクやウェーハの品質を評価するためのデータも提供します。CCDカメラを搭載したMATSUSHITA M-515L-IIは、画像処理結果をユーザーインターフェースでリアルタイムに表示します。M-515L-IIはオートアライメントとオートフォーカスを備えており、再現性のある信頼性の高い測定を保証します。オペレータコントロールパネルは、モニター、3キー入力セレクタ、8方向セレクタキー、4つのファンクションキーで構成されています。このモニターは、光学画像と画像処理結果をリアルタイムで表示します。コントロールパネルを使用して、オペレータはAOIパターンを入力し、測定する画像のパラメータを設定できます。装置は、迅速かつ正確な画像処理のための検査パラメータの最大600セットを格納することができます。MATSUSHITA M-515L-IIには大容量ハードディスクドライブが搭載されており、検査結果、画像ファイル、AOIパターン、またはテストパラメータを12GBまで保存できます。また、Ethernetポートを備えており、シンプルで高速なネットワーク接続が可能です。また、TWAIN対応USB 2。0ポートを搭載しており、パソコンへの素早いデータ転送が可能です。最後に、M-515L-IIは信頼できる操作および良質の結果を保障するために設計され、製造されます。その堅く、ちり止めの構造は塵および他の粒子の浸透が機械に入り、操作に影響を与えることを防ぎます。これにより、ツールの寿命が非常に長いことが保証されます。また、ISO 9001、 ISO 13485、 FCC Class Bの規則や規制など、厳しい業界基準を満たす認証を取得しており、自動マスクやウェーハ検査にも信頼できる選択肢となっています。