中古 LEICA / VISTEC MIS 200 #9262659 を販売中
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販売された
ID: 9262659
ウェーハサイズ: 8"
ヴィンテージ: 1995
Inspection system, 8"
Broken air dumper
1995 vintage.
LEICA/VISTEC MIS 200マスクおよびウェーハ検査装置は、光学イメージングシステムと高度な3Dイメージングアルゴリズムを組み合わせ、IC製造時の集積回路(IC)基板およびマスクを検査するための包括的なソリューションを提供する先端技術です。IC試験車両の光学検査、マスクの組立、電気検査など、幅広い高解像度検査が可能です。モジュラー単位は非常に多目的で、あらゆる生産条件を満たすために十分にカスタマイズすることができます。LEICA MIS 200マシンは、設置面積が小さく設置コストが低い効率的な設計を特徴としています。このツールには、強力なコンピュータプロセッサと高速メモリが装備されています。コンピュータ資産は、パフォーマンスを向上させるためにデジタル信号プロセッサ(DSP)に接続されています。また、ホットスワップ可能なハードドライブを備えており、簡単なデータストレージと検索が可能です。IC試験車両やマスクを詳細に検査するための光学顕微鏡と広視野顕微鏡があります。このモデルには、集積回路を検査するためのさまざまな3Dイメージングアルゴリズムが装備されています。これらのアルゴリズムは、ICの地形を解析し、開放回路、ショート、ブリッジなどの欠陥を検出し、ICの正確な視覚表現を提供することができます。これは、信頼性、正確性、および規制遵守を確保するのに役立ちます。このアルゴリズムは、欠陥を迅速かつ正確に検出および分類するのにも役立ちます。VISTEC MIS 200には、さまざまな高度なメトリクスおよび診断ツールも含まれています。これらの強力な指標は、さまざまな測定結果を分析して表示し、技術者が回路またはマスクの重要な問題を特定することができます。この機器は、業界標準のプロトコルやデバイスと互換性があり、自動試験装置、光学システム、およびその他のハードウェアへの接続を可能にします。MIS 200マスクおよびウェーハ検査システムは、あらゆるIC製造アプリケーションに最適なソリューションです。その高度な画像処理アルゴリズムは、あらゆるICの高い精度と信頼性を維持するのに役立ちます。また、カスタマイズされた構成と強力なツールにより、技術者は潜在的な欠陥を迅速かつ簡単に診断できます。
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