中古 LEICA / VISTEC LDS 3300C #9285848 を販売中

LEICA/VISTEC LDS 3300Cは、半導体およびマイクロエレクトロニクス製造プロセスで使用するために設計されたマスクおよびウェハ検査装置です。LEICA LDS 3300Cは、最先端の3Dイメージングと自動欠陥検出アルゴリズムを活用して、マスクやウェーハの欠陥を分子レベルで迅速かつ正確に検出できます。VISTEC LDS3300Cは、1ナノメートル以内で測定し、0。06 µmの欠陥を検出することができます。欠陥検出に加えて、マスクやウェーハの重要寸法、材料の電流に対する抵抗を正確に測定することができます。LDS 3300Cには、マスクやウェーハの画像を最大50万倍まで撮影できる高解像度カメラを搭載。カメラと画像処理ソフトウェアと強力な3D画像処理アルゴリズムを組み合わせることで、最小の欠陥でも正確に検出することができます。コンタクトパッドなどの小さな領域の測定も可能で、高精度な3D表面測定が可能です。機械は作動し、維持し易いように設計されています。直感的なユーザーインターフェイス、カスタマイズ可能な設定、メニュー駆動の操作ツールを備えています。LEICA/VISTEC LDS3300Cには自動校正アセットも装備されており、条件や環境に関係なく、モデルが正確かつ適切に動作し続けることを保証します。LEICA LDS3300Cはあらゆるマスクおよびウェーハの点検条件のための優秀な選択です。高精度で信頼性が高く、使いやすいです。これは、集積回路の製造とテストのための強力なツールであり、これまで以上に高い精度と品質保証を提供します。