中古 LEICA / VISTEC INS 3300 #9244341 を販売中

LEICA/VISTEC INS 3300は、強力で高精度なマスクおよびウェーハ検査装置で、半導体プロセスと製品品質をより効率的かつ包括的に分析する方法をお探しの方に最適です。このシステムにより、デバイス、マスク、回路、およびウェーハのコンポーネントおよびプロセスを迅速、正確、効率的に監視、検査、比較することができます。この装置は、OPC（光学フォトリソグラフィープロセス制御）やRET（解像度強化技術）などのクロマチック共焦点顕微鏡およびスキャン規格を使用して、結果の比較および分析に使用できる最適化された画像を作成します。画像は高精度であり、表面の非均一性、粒子の存在、およびマーカー密度を考慮に入れています。これにより、結果が信頼性と再現性が確保され、効率的な品質監視と制御が可能になります。LEICA INS 3300はまた、自動およびガイド付き検査および測定機能の広い範囲を備えています。これにより、ユーザーは手動での入力や解釈を必要とせずに、データと結果を迅速かつ正確に分析することができます。さらに、これらの結果は、光源フリーレーザースキャン処理により、完全に正確で再現性があります。さらに、このマシンは統合されたソフトウェアスイートを備えており、画像やデータをコンピュータからPCに転送し、さらなる分析と操作を行うことができます。これにより、エンジニアと科学者は、データを手動で入力または解釈することなく、結果を簡単に分析および比較することができます。結論として、VISTEC INS 3300は、半導体プロセスまたは製品からデータを分析する強力で正確で信頼性の高い方法をお探しの方に最適です。このツールは、ユーザーが迅速かつ正確に画像を分析し、品質管理と改善の支援を確実にするために結果を比較することができます。さらに、統合されたソフトウェアスイートと組み合わされた自動およびガイド付き検査および測定機能により、分析および検査に最適なツールとなります。