中古 LEICA / VISTEC INS 3300 #9196670 を販売中

LEICA/VISTEC INS 3300マスク&ウェーハ検査装置は、集積回路マスクおよびウェーハの欠陥を検出するために設計された高度な検査システムです。このユニットは、エンドユーザーが根本原因を修正するのを支援しながら、生産ラインの欠陥をリアルタイムで表示することができます。最新のパターンとトポロジー認識を活用して、幅広い構造形状のさまざまな欠陥を検出し、高い製品品質を保証します。LEICA INS 3300ツールは、300万画素の高解像度カメラと300mmレンズを備えています。この強力なイメージングソリューションは、高度な画像処理アルゴリズムと組み合わされており、最も複雑なパターンの微細な欠陥を検出することができます。カメラセンサと画像処理アルゴリズムは、表面トポロジ条件を超精密に評価するために最適化されており、分析において比類のないレベルの詳細をユーザーに提供します。このモデルの高度なパターン認識機能により、欠落したフィーチャーや紛失したフィーチャー、または傷、粒子、エッチングピットなどの物理的欠陥をすばやく識別できます。この装置は4,000ピクセル/秒の速度でスキャンすることができ、高いスループットと迅速なターンアラウンドタイムを実現します。迅速な欠陥検出に加えて、VISTEC INS 3300マスク&ウェーハ検査システムは直感的で使いやすいです。ユニットのユーザーインターフェイスは、簡単なナビゲーションのために設計されており、検査設定とプロセスをユーザーが完全に制御できます。ユーザーインターフェイスには、強力な統計機能も含まれており、生産またはプロセス関連の問題を特定するために、ユーザーが洗練された分析を迅速かつ効率的に実行することができます。INS 3300マシンは、フィードバック制御システムを統合して設計されており、入力信号に応じて自動的に調整することができます。これにより、手動調整を必要とせずに、デバイスがわずかな欠陥を確実かつ正確に検出し続けることができます。最後に、このツールには、処理中の機密データを保護するための強力なセキュリティ機能とツールが含まれています。高度なアクセス制御、データ暗号化、ファイアウォールネットワーク接続で保護され、LEICA/VISTEC INS 3300アセットのデータセキュリティは最高レベルです。LEICA INS 3300 Mask&Wafer Inspection Modelは、高度でありながらユーザーフレンドリーな欠陥検査装置であり、さまざまな欠陥を正確性、信頼性、セキュリティで効果的に検出します。