中古 LEICA / VISTEC INS 3300 #9195365 を販売中

LEICA/VISTEC INS 3300は、汎用性の高いマスクおよびウェーハ検査装置です。このシステムは、色および高解像度の画像の光学検査、ならびに半導体プロセスのすべての段階の寸法および高精度の測定に測定グレードの機能を提供します。LEICA INS 3300の柔軟な設計は、高度に自動化された生産環境の変化するニーズに対応します。VISTEC INS 3300は、あらゆるサイズのウェーハおよびマスクの高精度、非接触光学検査を提供します。オートフォーカス、ステッチ、光学欠陥検査、フィデューシャルアライメント、フィデューシャル測定を活用し、マスクやウェーハの精度を確保しています。機械は自動的に光学およびマスクの欠陥を検出することができ、ユーザーはすぐに生産工程の間違いを識別し、修正し、時間のかかるレチクルのリメイクを避けることができます。このツールは、マスク形状の精度を確認するための正確な測定を提供します。高感度イメージングセンサーはX軸とY軸のサブミクロン分解能を提供し、14ビットのA/DコンバータはZ軸の精度を保証します。さらに、2Dおよび3D表面解析アルゴリズムは、重要な寸法精度と欠陥検出を保証するために、マスク機能の輪郭マッピングを提供します。さらに、INS 3300は複数のマスクを同時に検査できるため、複数の再測定が必要になります。マルチマスク検査機能は、複数のソースからのマスクの同時検査をサポートし、より迅速な納期と生産の信頼性を実現します。要約すると、LEICA/VISTEC INS 3300は、半導体部品メーカー向けに強力で汎用性の高い機能と機能を備えた広範なスイートを提供します。計測グレードの精度、正確な自動測定機能、並行したマルチマスク検査機能により、製品の品質と信頼性の向上を求める組織にとって理想的な資産となります。さらに、自動フォーカシング、ステッチ、光学欠陥検査、フィデューシャルアライメント、フィデューシャル測定機能により、変化する大容量半導体業界のニーズに合わせた柔軟な設計が可能です。