中古 LEICA / VISTEC INS 3300 #9192641 を販売中

LEICA/VISTEC INS 3300は、半導体の研究および製造のために設計された高精度で自動化されたマスクおよびウェーハ検査装置です。8インチ（20。5 cm）から12インチ（30。5 cm）までのマスクサイズで動作可能で、光学検査とX線検査の両方を提供します。光学検査は、高感度の科学グレードのCCDカメラと交換可能なレンズシステムを使用し、傷やサイト固有の欠陥などの欠陥を自動的に検出します。LEICAユニットは、検出と測定の精度を確保するために、動的ビデオ自動測定（DVAM）技術と高度なコンピュータソフトウェアの両方を使用して、最高レベルの精度に焦点を当てています。X線検査用に、LEICA INS 3300は、最先端のマイクロフォーカスX線源と、欠陥特異的なイメージングを可能にする可変スポットサイズを備えています。さらに、シリコンウェーハの層間欠陥や埋設欠陥を検出することができ、高度なプロセスに最適です。その他にも、フルHD液晶モニター、タッチスクリーンコントロールパネル、先進的なウェハハンドリングアセットなど、最先端の検査ツールとなっています。ハイエンドの検査モデルには、複数のパターンのアライメント用に自動アライメント補正チップがセットされています。USBやソフトウェアインターフェイスを介してデータを素早く転送することができ、さらに分析のためにデータをコンピュータにダウンロードすることもできます。最後に、VISTEC INS 3300のカスタマイズ可能なユーザーインターフェイス、自己診断プログラム、自動アラートにより、検査プロセスを簡素化するユーザーフレンドリーな機器となります。信頼できる性能、包括的な欠陥検出、および高精度の精度を備えたINS 3300は、半導体産業アプリケーション向けの効果的で費用対効果の高いマスクおよびウェーハ検査システムです。