中古 LEICA / VISTEC INS 3300 #293595578 を販売中

LEICA / VISTEC INS 3300
ID: 293595578
Wafer inspection system.
LEICA/VISTEC INS 3300マスク&ウェーハ検査装置は、半導体製造業向けの完全自動化された高精度のイメージングおよび欠陥評価システムです。このユニットは、生産性、精度、信頼性を最大限に高め、歩留まり、スループット、品質を向上させます。このマシンは、電動ステージと電動ズームオプティクス、イメージングプロセッサエレクトロニクス、および分析ツールで構成されています。マスクやウェーハの優れたマクロおよびマイクロイメージングを提供するように設計されており、マスクおよびウェーハ表面の非常に高解像度のイメージングを提供します。これは、幅広い欠陥サイズ、形状、および場所の高コントラスト欠陥と低コントラスト欠陥の両方を検出および出力する機能を提供します。このツールは、イメージマスクおよびウェーハレイアウト機能にオプティカル近接補正(OPC)イメージング技術を使用しています。この技術は、高解像度と低ノイズで、5マイクロメートルの小さな寸法の特徴を正確に画像化することができます。また、プロセスバリエーションを正確に監視するためのスクライブラインイメージングも可能です。高倍率(マスク40x、ウェーハ50x)と低倍率(マスク40x、ウェーハ25x)の両方を実現しています。高倍率画像は欠陥分類に使用され、低倍率画像はプロセスのフィードバックに使用されます。画像は、TIFF、 JPEG、 PNGなど、さまざまな形式で保存できます。LEICA INS 3300は、使いやすいツールと直感的なインターフェースを備え、非常にユーザーフレンドリーに設計されており、セットアップと操作が簡単です。直感的なGUI設計により、システムの操作がさらに簡単になり、ユーザーはユニットの設定や構成をより簡単に制御できます。VISTEC INS 3300マシンは、最高品質のイメージングおよび検出機能をお客様に提供するとともに、最高のスループットと最高の生産性を提供するように設計されています。このツールは費用対効果が高く信頼性が高いため、顧客は最高品質の画像出力を維持しながら設備投資を削減できます。高度な技術、自動化された機能、ユーザーフレンドリーな設計を備えたINS 3300 Mask&Wafer Inspection Assetは、品質、スループット、歩留まりの向上を目指す半導体メーカーにとって理想的なソリューションです。
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