中古 LEICA / VISTEC INS 2000 #9308872 を販売中

LEICA/VISTEC INS 2000は、半導体産業のために特別に設計された精密マスクおよびウェーハ検査装置です。高解像度イメージングや自動欠陥検査などの高度な機能を備えており、半導体デバイスの製造において最高の品質基準を確保するのに役立ちます。LEICA INS 2000は、強力な光学および画像処理技術を利用して、マスクやウェーハの欠陥や欠陥を検出および測定する完全自動化システムです。高解像度イメージングと高度な画像解析を提供し、マスクとウェーハの両方に小さな欠陥や汚染物質を検出することができます。さらに、このマシンは自動欠陥検査機能を提供し、プロセスとユーザーの特定の要件を満たすようにカスタマイズすることができます。VISTEC INS 2000は、フルフィールドおよびターゲットマスクおよびウェーハ検査の両方を実行するように構成できます。フルフィールド検査により、このツールはフィールド全体を一度にスキャンし、最小の欠陥を検出することができます。対象となる検査のために、アセットは、マスクとウェーハ上の選択された領域または領域のみを検査するように構成することができます。検査機能に加えて、欠陥レビューやSPC （Statistical Process Control）機能などの高度な機能を提供します。欠陥レビューにより、ユーザーは詳細なレベルで欠陥を調査および分析することができ、生産プロセスに関する情報に基づいた意思決定を行うことができます。SPC機能を使用すると、プロセスのパフォーマンスを監視し、潜在的な問題や欠陥を検出できます。LEICA/VISTEC INS 2000は、半導体デバイスの品質と信頼性を確保するための優れたツールです。最先端の光学および画像処理機能を提供し、最小の欠陥を検出し、品質の問題や汚染が検出されないようにします。自動化された欠陥検査機能により、ユーザーはデバイスの製造において最高品質の基準を満たしていることを確信できます。