中古 LEICA / VISTEC INS 1000i #9265479 を販売中

LEICA/VISTEC INS 1000iは、半導体製造のための高精度な表面およびプロファイル検査を可能にするように設計されたマスク&ウエハ検査装置です。このシステムは、ダイボンド、メタライゼーション、リソグラフィ、計測、欠陥検査など、さまざまなQCおよび研究アプリケーションに使用できます。LEICA INS 1000iは、顕微鏡光学、デジタル信号処理、高度なアルゴリズムの強力な組み合わせを利用して、高解像度の画像と分析を取得します。3000万画素カメラを搭載し、1 μ mまでの鮮明な画像をぼかしたり歪んだりすることなく撮影できます。これにより、酸化物、金属、誘電体など、さまざまな半導体材料の正確で詳細なイメージングが可能になります。表面検査、ウエハ検査、プロファイル測定が1パッケージで行えます。最大100mm/秒でのスキャンが可能な6軸スキャンステージを搭載し、高速な検査・解析が可能です。このツールはまた、内蔵のSDおよびHDスキャンモードを備えており、迅速な検査時間とスループットの最大化を可能にします。VISTEC INS 1000iは、ウェーハエッジ検出と解析のための自動ビートマッチングを提供します。この機能は、ウェーハ検査中に誤検知を排除するように設計されています。また、ウェーハの平坦度と粒度の自動測定と分析も可能です。エッジ強化とコントラスト強化機能により、ターゲット材料と非標的粒子の違いを容易に確認できます。INS 1000iは、最小限のトレーニングや専門知識を必要とするユーザーフレンドリーな操作ソフトウェアで設計されています。これは、手動調整やキャリブレーションなしでパラメータを簡単に選択できるように、完全に自動化されたセットアップ・ルーチンを備えています。ユーザーフレンドリーなインターフェースにより、モデルで迅速かつ簡単に操作できます。結論として、LEICA/VISTEC INS 1000iは半導体製造を目的とした先進的なマスク&ウエハ検査装置です。3,000万画素カメラ、6軸スキャンステージ、自動ビートマッチング機能により、高解像度のイメージングと1 μ mまでの正確な検査が可能です。また、自動化された測定と分析、エッジの強化とコントラストの強化機能、自動化された設定ルーチンを備えたユーザーフレンドリーな操作ソフトウェアも備えています。