中古 LEICA / VISTEC INS 1000 #9265472 を販売中

ID: 9265472
ウェーハサイズ: 8"
Microscope, 8" Networkable CIM SMIF, 8" Handler, 8".
LEICA/VISTEC INS 1000は、マスクとウェーハ検査のプラットフォームです。それは欠陥およびプロセス異常の正確な決定のための完全に自動化された装置です。このシステムは、ナノメートルレベルまでの欠陥を特定し、定量することができます。優れた画像解析機能を提供し、研究、開発、製造のアプリケーションに最適です。LEICA INS 1000は、走査型電子顕微鏡と光学顕微鏡を組み合わせてマスクやウェーハの品質を検査するマルチチャネル光検査ユニットです。このマシンには、内蔵のレーザーアライメントツール、統合された高解像度カメラ、および信頼性と再現性の高い結果を提供する完全に自動化されたソフトウェアとハードウェアスイートが付属しています。アセットは、エッチングされたサーフェスとエッチングされていないサーフェスの両方を分析できます。このモデルは手動モードと自動モードの両方を備えており、研究環境と生産環境の両方で使用することができます。マニュアルモードは研究に必要な精度と機能を提供し、自動化されたモードはより大きなサンプル検査プロジェクトで使用するように設計されています。装置は非常に適応可能であるように設計され、広い範囲の適用で使用することができます。統合ソフトウェアは、欠陥とプロセス異常を分析および定量化するための包括的なツールのセットをユーザーに提供するように設計されています。ソフトウェアは、マスクとウェーハの両方の欠陥データの抽出、比較、および提示をサポートしています。このソフトウェアには、カスタムグラフィックス、グラフィカルオーバーレイ、および欠陥マップを作成するための一連のデータプレゼンテーションモジュールも含まれています。このシステムには、自動画像解析ソフトウェアや解析ライブラリ、サンプル転送システム、さまざまなサイズやサンプル材料の構成に対応するためのさまざまなサンプルホルダーなどのオプションのアクセサリも含まれています。これにより、ユーザーは特定のニーズに合わせてセットアップをカスタマイズできます。VISTEC INS1000は、一度に最大4つのウェーハを分析する機能を提供し、3ナノメートルの画像解像度を提供します。これにより、半導体デバイス製造などの最高画質を必要とするアプリケーションに最適です。このユニットは使いやすく設計されており、経験の浅いユーザーでも信頼性の高い正確な結果を得ることができます。機械は信頼性が高く、メンテナンス性が低く、堅牢な構造です。また、非常にコンパクトであり、既存のプロセスに統合することができます。これにより、半導体製造、研究開発において優れた選択肢となります。
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