中古 LEICA / VISTEC 3300 #9238318 を販売中

LEICA / VISTEC 3300
ID: 9238318
ウェーハサイズ: 8"-12"
ヴィンテージ: 2003
Wafer inspection system, 8"-12" 2003 vintage.
LEICA/VISTEC 3300マスクおよびウェハ検査装置は、半導体メーカーがデバイスの最高品質基準を保証するために設計されています。高精度の光学技術とモーションテクノロジーにより、マスクやウェーハ製造プロセスの欠陥を迅速かつ正確に検出できます。ユニットの設計は、テーブルトップと垂直アライメントプラットフォームに基づいており、部品の簡単な操作と調整を可能にします。その光学システムは、最小限の労力と最大の信頼性でユーザーに高解像度とシェード精度を提供するように設計されています。スキャン精度は2 μ mまで正確に設計されており、オートフォーカス技術により、検査プロセス中にフォーカスが固定されます。照明技術の面では、LEICA 3300はLEDライトと拡散レーザーの組み合わせを使用しています。レーザー技術よりも安価なLEDライトは、ウェーハ欠陥の高コントラスト画像を提供するために使用され、拡散レーザーはマスクを検査するために使用されます。また、さまざまなデータキャプチャおよび分析ツールを備えているため、欠陥や不規則性を迅速かつ正確に検出および分類することができます。また、可視化解析、ヒストグラム解析、3D画像再構築など、さまざまな分析ツールを提供しており、ユーザーは良い領域と悪い領域を簡単に区別することができます。さらに、ユーザーフレンドリーなインターフェースにより、ユーザーは資産を正確に監視および制御することができ、優れたユーザーエクスペリエンスを提供します。このソフトウェアは、ユーザーにタスクを支援するオンラインヘルプとモデル表示パラメータを備えています。VISTEC 3300のマスクおよびウェーハの点検装置はあらゆる環境の信頼できる操作のためにおよび有効な製造工程を提供するように設計されています。これは、製品が最高レベルの品質と性能を提供することを確実にしたい半導体メーカーにとって必須のものです。
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