中古 LEICA INS 3300 #9410296 を販売中

ID: 9410296
ヴィンテージ: 2003
Wafer inspection system FOUP Loadport, 12" 2003 vintage.
LEICA INS 3300は、ハイエンドのマイクロエレクトロニクス機器の検査用に特別に設計されたマスクおよびウェハ検査装置です。ドイツの精密技術会社、LEICA Microsystemsによって開発されました。このシステムは、最適な照明とイメージングのための統合ビーム配信ユニット、高分解能検査のためのフィールド放出銃、サンプル調製のためのリコートモジュール、サンプル位置を制御するための多軸モーターマシンなど、いくつかのコンポーネントで構成されています。これらのコンポーネントはすべて、堅牢でモジュラーハウジングユニット内に収納されています。この独自設計により、ツールの柔軟性と汎用性を最大限に高め、さまざまな半導体プロセスや製品アプリケーションでの使用に最適です。LEICA INS3300は直感的なユーザーフレンドリーなインターフェースを備えており、自動ナビゲーション、オーバーレイ比較ツール、パターン比較など、さまざまな操作モード間を簡単に移動できます。これにより、エンジニアは、特定の検査要件を容易に満たすようにアセットを迅速に構成できます。さらに、このモデルは、クローズアップズーム、最大画像サイズ、シングルチップマスク、および再現可能な検査パラメータと関心のある領域など、さまざまなユーザーが選択可能なイメージングモードを提供します。INS 3300のユニークな特徴は、高速起動時間、高精度ナノメートルの精度、画質を損なうことなく広い領域を撮影することができます。これと同様に、モジュラーアーキテクチャにより、簡単に交換可能な部品と簡単なメンテナンスが可能です。全体として、INS3300はスピード、精度、柔軟性の比類のないレベルを提供する最先端のマスクおよびウェーハ検査装置です。半導体およびマイクロエレクトロニクスプロセスでの使用に最適で、迅速な起動時間と最適な結果を得るためのさまざまなユーザーフレンドリーなイメージングモードを提供します。このようにして、欠陥が迅速かつ正確に識別され、必要最小限のエネルギーコストが保証されます。
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