中古 LEICA INS 3300 #293628459 を販売中

LEICA INS 3300
ID: 293628459
Wafer inspection system.
LEICA INS 3300は、最も要求の厳しい半導体アプリケーション向けに設計された、世界をリードする革新的なマスクおよびウェーハ検査装置です。近距離光学顕微鏡(NFOM)、バックサイドイメージング、ウェーハの前面と背面の両方の高解像度画像を提供する高度な低光イメージング機能など、さまざまな最先端の機能を備えています。このシステムには、さまざまなタイプのオートメーションシステムと組み合わせることができるモジュールが装備されており、生産プロセスへの完全な統合が可能です。LEICA INS3300は、ユニークな多波長イメージングユニットを使用して、シリコンウェーハの前面と背面の両方の欠陥フィーチャーを明確に視覚化します。このマシンは、最大直径300mmのウェーハサイズを検査することができ、ウェーハを自動的にロード、アンロード、傾斜させることができる人間工学に基づいて設計されたロードステーションを備えています。このツールは、ウェーハの高密度検査を迅速かつ効率的に実行できるさまざまな画像取得および画像解析ツールを提供します。傷、ピンホール、粒子、表面汚染、線幅変化など多種多様な欠陥を検出することができます。INS 3300の高度な欠陥分類ツールは、欠陥タイプの正確な決定を可能にし、高度な歩留まり解析に使用することができます。INS3300はまた、迅速かつ簡単に欠陥のレビューと管理を可能にする統合欠陥レビュー資産を提供しています。このモデルは、他のさまざまなソフトウェアスイートとの統合を可能にし、簡単な操作を可能にするカスタマイズ可能なユーザーインターフェイスを提供しています。全体として、LEICA INS 3300は、最も要求の厳しい半導体アプリケーション向けに設計された高度なマスクおよびウェーハ検査装置です。これは、画像取得および画像解析ツール、高度な欠陥分類機能、および統合されたレビューおよび管理システムの広範なスイートを提供します。LEICA INS3300は、最先端の機能とオートメーション機能を組み合わせた強力で信頼性の高い検査ユニットで、高い歩留まりと製品品質を保証します。
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