中古 LEICA INS 3000 #9412578 を販売中

LEICA INS 3000は、半導体検査用に設計されたマスクおよびウェハ検査装置です。半導体業界の主要規格を満たす検査を提供できる高性能・高精度システムです。LEICA INS-3000は、高解像度CMOSおよびCCD検出器と対物レンズを使用して、ウェーハやマスクを体系的にスキャンし、さまざまな半導体欠陥を検出します。ピッチ抽出、スプリットイメージング、フルフィールドインスペクションなど、幅広い検査モードを提供します。ピッチ抽出検査は、マスク上の密接な間隔のあるパターンを分析するのに役立ちますが、分割イメージングは、密なパターンと分散したパターンの両方の特定の種類の欠陥を検出するように設計されています。フルフィールドインスペクションは、マスク上の各ピクセルを正確な精度でスキャンして比較するため、最高レベルの解像度と精度を実現します。INS 3000は高度な画像処理技術も活用しています。これらには、自動化されたアライメント、欠陥分類、マルチスケール分析が含まれ、マシンが一貫して欠陥を識別できるようになります。さらに、このツールのinnerviewerテクノロジーは、欠陥が検出されるたびにユーザーに警告するリアルタイムのフィードバックを提供します。このアセットは使いやすく設計されており、さまざまなソフトウェアおよびハードウェアコンポーネントとの統合オプションを提供します。ユーザーフレンドリーなインターフェイスは、迅速かつ効率的な操作のために合理化されており、自動化されたアライメントと測定機能により、検査と検査結果の設定プロセスが簡素化されます。INS-3000は、あらゆる半導体生産アプリケーションに理想的なマスクおよびウェーハ検査モデルです。その分解能と精度により、さまざまな半導体の欠陥を検出および分析するために非常に信頼性が高くなります。装置は非常にユーザーフレンドリーで、オペレータが迅速かつ効果的にシステムをセットアップして実行することが簡単になります。幅広い検査モードと高度な画像処理機能を備えたLEICA INS 3000は、包括的な半導体検査を実行するための効率的で信頼性の高い方法を提供します。