中古 LEICA INS 3000 #293619072 を販売中

LEICA INS 3000
ID: 293619072
Wafer defect inspection system SMIF.
LEICA INS 3000は、包括的な品質管理と生産プロセス制御を提供する強力なマスク&ウエハ検査装置です。このシステムは、生産プロセスの歩留まりとスループットを向上させ、より高いウェーハ品質を確保するために特別に調整されています。このユニットは高出力180kV フラットパネルX線源を備えており、レイヤーの向きや複雑さに関係なく、マスクまたはウェーハ上のすべてのレイヤーの鮮明で明確なイメージを提供します。複数のレイヤーとエリアを同時に検査できるため、検査時間を大幅に短縮できます。このツールには、任意のサイズまたは任意の材料を介して検査するためのレーザー集中機能もあります。また、LEICA INS-3000では、デジタル画像処理に使用されるのと同じ原理に基づいたアルゴリズムを使用した自動欠陥検出機能を提供しています。これにより、最高レベルの品質管理を維持しながら、最高の精度を保証します。検査アセットには、ヒストグラム処理、自動しきい値の取得、モルフォロジー機能など、さまざまな画像処理ソフトウェアが含まれています。これらの機能はすべて、マスクまたはウェーハの欠陥や不一致を特定するのに役立ちます。INS 3000は直感的なグラフィカルユーザーインターフェイス(GUI)も備えており、モデルの簡単な制御とナビゲーションを可能にします。また、GUIを使用すると、マスクとウェーハの検査結果を保存して将来の比較と参照を行うこともできます。また、外部データベースへの接続も可能で、マスクやウェハ検査データの共有や照合が容易に行えます。最後に、INS-3000には、検査プロセス中にオペレータに矛盾や潜在的な欠陥を警告する統合アラームシステムが含まれています。これにより、オペレータは懸念事項を迅速に特定して修正できるため、ダウンタイムを短縮できます。全体として、LEICA INS 3000マスクおよびウェハ検査ユニットは、あらゆる生産ラインで最高レベルの品質管理を保証するための貴重な機器です。高性能イメージング機能、自動欠陥検出機能、統合アラームマシンにより、歩留まりを向上させ、ダウンタイムを短縮します。直感的なグラフィカルユーザーインターフェイスと外部データベース接続により、検査データの迅速な照合と分析が可能です。
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