中古 LEICA INS 300 #9298489 を販売中

ID: 9298489
ヴィンテージ: 2005
Wafer defect inspection system 2005 vintage.
LEICA INS 300は、マイクロエレクトロニクス製造に使用される最先端の半導体計量マスクおよびウェハ検査装置です。優れた光学、高解像度イメージング、精密なモーションコントロールの組み合わせにより、幅広いマスクやウェーハ用途に必要な機能を正確に評価します。このマシンは、真空密封された空気のない環境を備えており、光学的な明瞭さと30mmの視野を保証します。そのスキャンレーザーアセンブリは、最高0。7ミクロンの解像度を提供し、高い画像精度を可能にします。さらに、汎用性の高いデジタルイメージングシステムは、毎秒最大10枚の画像を撮影することができます。INS 300は強力なカスタムソフトウェアアルゴリズムを採用し、イメージングと分析機能を最適化しています。その洗練されたアルゴリズムにより、さまざまな標準的および独自の技術を通じてパターンや欠陥を迅速に識別および分析することができます。光学分解能イメージング測定(ORIM)、フーリエ変換赤外線(FTIR)分光、デジタル十字相関(DCC)技術などがあります。また、特定の要件を満たすために独自のカスタムアルゴリズムを作成することもできます。LEICA INS 300は、その精度と信頼性をさらに高めるために、様々なモーションコントローラ、サーボモータ、加速度センサーを搭載しています。これらのコンポーネントは、ユニットがさまざまな条件のために異なる運動の感度を迅速かつ正確に調整することができます。INS 300は全面的な性能、信頼性および正確さを保証します。これは、基本的な光学試験から複雑な計測アプリケーションまで、さまざまな検査タスクに最適です。優れたマシンアーキテクチャと正確な測定により、製造に使用されるマスクが可能な限り最高レベルの機能性を確保するのに役立ちます。
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