中古 LEICA INS 2000 #293626746 を販売中
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LEICA INS 2000は、LEICA Microsystems社のマスクおよびウェーハ検査装置です。スループットを最大化し、1X、 2X、 5Xレチクルまでの最も複雑なマスクダウンリトホシステムの最小欠陥を特定するように設計されたハンズフリーユニットは、重要なフロントサイドおよびバックサイドのマスク欠陥の迅速な検査に最適です。INS 2000には、マスクとウェーハまたはフィルムの精密なアライメントを確保するために不可欠な高度なキネマティクスと診断が含まれています。自律設定、並列検出、ウェーハ測定により、オペレータのエラーを排除し、手動アライメントにかかる時間を無駄にします。これにより、最速で最高品質の結果が保証されます。LEICA INS 2000は「、コンフォーカルイメージング」と呼ばれる特許取得済みの光学方式を使用して、マスクとウェーハ表面を最高解像度で検査します。この方法は、低消費電力レーザー光源とマスクまたはウェーハの表面との相互作用に基づくイメージング技術に依存しています。このツールは、サブミクロン分解能で表面構造の高解像度画像をキャプチャします。INS 2000には、さらに人手を削減し、より正確で信頼性の高い結果を可能にする自動欠陥追跡ソフトウェアが装備されています。このアセットには欠陥分類と優先順位付けオプションもあり、検出された欠陥をサイズとフィーチャー属性に応じてグループ化することでプロセスを合理化します。これにより、より効率的な生産プロセスが保証され、コストの削減に役立ちます。LEICA INS 2000は、生産ニーズの変化に合わせて容易にモデルを適応させることができるモジュラー設計も備えています。高速、高精度、再現性を兼ね備えたこの機能は、高スループット検査プロセスに最適です。INS 2000は、最新の技術とイメージング技術を取り入れた高度なマスクおよびウェーハ検査装置で、正確な表面地形を特定します。このシステムは、一貫した信頼性の高い最終製品を提供するために不可欠なマスクおよびウェーハ表面の迅速かつ効率的な検査を可能にします。LEICA INS 2000は、モジュラー設計と特許取得済みの光学系により、マスキングおよびウェーハ検査システムのための卓越したソリューションです。
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