中古 LEICA APECS 3020 #9410740 を販売中

LEICA APECS 3020は、半導体業界の厳しい要求に応えるために設計された高性能マスクおよびウェーハ検査装置です。マスクやウェーハの検査を迅速かつ正確に行う一連の自動化された方法により、マニュアルエラーを排除します。直径6インチ、特長1。0umまでのリソグラフィックマスク検査が可能で、高度なイメージング技術により優れた3D解析機能を提供します。APECS 3020は、高度な自動光学検査（AOI）技術を使用して、マスクおよびウェーハパターンを迅速かつ正確に検査します。AOIは、デジタル画像取得を使用してマスク表面から画像データを取得し、そのデータを処理してデジタル画像を生成します。この画像を分析し、マスクの潜在的な欠陥または不規則性を検出して識別するための事前定義された基準セットと比較します。このマシンには、高精度のステージと高度なソフトウェアアルゴリズムが装備されており、正確で正確なウェーハ検査を保証します。高解像度ステージにより、ウェーハ表面の小さなフィーチャーを正確に検出できます。また、高度なソフトウェアアルゴリズムにより、マスク表面のフィーチャーを正確かつ正確に位置測定できます。LEICA APECS 3020は、直感的なコントロールと使いやすいユーザーインターフェイスを備えており、直感的な操作とマスクおよびウェーハ検査プロセスを正確に制御できます。すべてのツールコントロールは、タッチスクリーンと人間工学に基づいたキーパッドを介してアクセスできます。また、分析結果を保存するためのTIFF、 JPEG、 RAW、 GIF、 BMPなどのさまざまなデータストレージフォーマットも提供しています。APECS 3020は、最短時間で可能な限り最良の結果を保証するために、さまざまな高度な機能を備えています。これらの機能には、高速スキャン、内蔵欠陥修復、自動フォーカス制御、高度な画像処理およびデータ分析機能、ピクセル単位のマスク検査、自動欠陥補正および自動レポート機能が含まれます。これらの機能は、高度なマスクおよびウェーハ検査技術と組み合わせて、卓越した精度、信頼性、速度を提供します。結論として、LEICA APECS 3020は、半導体業界の厳しい要求に応えるために設計された強力なマスクおよびウェーハ検査モデルです。この装置には、高度な光学系、直感的なシステムコントロール、さまざまな自動化および分析機能が搭載されており、マスクやウェーハを迅速かつ正確に分析できます。APECS 3020は、すべての半導体デバイスの最高レベルの品質と信頼性の確保に役立ちます。