中古 LASERTEC M8351 #9230283 を販売中

LASERTEC M8351 Mask&Wafer Inspection Equipmentは、生産ラインにおけるマスクおよびウェーハの表面欠陥を検査および測定するために設計された高精度の光学検査システムです。半導体デバイスの高速・高分解能検査・測定を可能にし、欠陥の迅速かつ正確な検出を可能にします。LASERTEC M 8351の主なコンポーネントには、多波長レンズ結合レーザースキャナ、高精度ステージマシン、高度なソフトウェア、および周波数安定化レーザーソースが含まれます。スキャナは、スペクトルスキャン技術を使用して、幅広い材料からの欠陥を検出し、画像を検出します。高度なソフトウェアには、強力な機能認識アルゴリズムと、ナノメートル測定と正確な欠陥識別のための高度な画像処理機能が含まれています。このツールは、最大10アングストロームの解像度で、5ナノメートルまでの欠陥を検出することができます。M8351は、欠陥分類、欠陥マッピング、接触穴検査、2Dエッジ検査、MOSウェハ表面検査、レーザー顕微鏡機能など、さまざまな検査および測定機能を提供します。高速動作と自動化されたワークフローにより、困難なサンプルの自動検査と測定をサポートします。さらに、このアセットを高度な光学表面特性評価モデルと組み合わせることで、ウェーハおよび欠陥の表面を調べるための統合されたウェーハメトロロジーソリューションを提供することができます。高度なハードウェアとソフトウェアの独自の組み合わせにより、M 8351は業界をリードするセキュリティと信頼性に不可欠な信頼性と再現性の高い検査および測定結果を提供します。この装置は高精度かつ高精度で動作し、プロセスおよび信頼性制御から高度な故障解析まで、幅広い業界の要件に適しています。さらに、直感的なユーザーフレンドリーなインターフェイスにより、操作が簡単になります。全体的に、LASERTEC M8351は、幅広い材料の表面欠陥を検査および測定する機能を備えた強力で信頼性が高く、正確なマスクおよびウェーハ検査システムです。正確な欠陥検出、多波長スキャナ、高速動作により、生産ラインに最適です。幅広い機能を備えたLASERTEC M 8351は、半導体業界の品質管理に最適です。