中古 KURODA Nanometro #196389 を販売中

黒田ナノメトロは、ナノスケール構造物を迅速かつ正確に測定・分析するために設計された、マスクおよびウェハ検査システムの次世代製品です。この装置は、最大10nmの高解像度で自動的に検査することができますが、それでも大きな構造や欠陥を測定することができます。これは設定可能で、高精度でナノスケール欠陥の検出と特性評価を可能にする特許取得済みのデータ処理アルゴリズムが含まれています。ナノメトロでは、構造と欠陥特性の両方を短時間で完成させることができます。黒田ナノメトロの特徴は、高精度・高速化です。高速デュアルピクセル技術により、高精度な測定が可能です。これは高度なアルゴリズムと組み合わせることで、より高い倍率でも微妙な欠陥を迅速に検出することができます。検査システムは、異なるサイズとオブジェクトの種類に対応するために、複数のスキャンモードを提供しています。ユーザーフレンドリーなユーザーインターフェイスは、スキャン周波数やスキャンパターンなどのイメージングパラメータを簡単に制御できます。このユニットには、ライブイメージ操作と画像解析ツールを備えたソフトウェアパッケージも含まれています。これにより、ユーザーは素早くマシンをパラメータ化し、データの正確な表示を可能にすることができます。Nanometroはコンパクトで軽量で、既存のテスト設定に簡単に統合できます。内蔵の欠陥ライブラリは再現性を確保し、欠陥を探すのに必要な時間を制限します。欠陥ライブラリを使用すると、将来の参照のためにデータを中央アーカイブに保存、レビュー、エクスポートできます。さらに、このツールは低ノイズであり、ノイズ低減システムや追加ハードウェアの必要性を排除し、全体的なコストを削減します。全体として、スピードと精度が最も重要なプロジェクトに最適です。優れたユーザーフレンドリー性と統合の容易さ、高度なイメージング機能、および欠陥ライブラリを備えたナノメトロは、ナノスケールの機能を検査するための大きな財産であることは間違いありません。