中古 KURODA Nanometro 450TT #293645313 を販売中
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黒田ナノメトロ450TTは、超高解像度イメージングと測定を可視光と赤外線の両方に統合した高度なマスクおよびウェハ検査装置です。半導体デバイスの製造に必要なマスクやウエハのパターン、形状、欠陥を徹底的に検査・分析することを目的としています。ナノメトロ450TTは、高度な光学技術、高度な計測技術、画像取得技術、ソフトウェア解析プログラムを組み合わせて、高解像度のイメージングと測定機能を提供します。このユニットに搭載されているイメージングシステムは、最大265メガピクセルの解像度の画像を提供することができ、マスクやウェーハの最小欠陥や幾何学的な特徴さえも、比類のないディテールを提供します。黒田ナノメトロ450TTは、これらの技術を活用して、表面欠陥検査、パターン登録検査、オーバーレイ測定、レチクル登録検査、組成分析など、幅広い検査・分析が可能です。表面欠陥検査の観点から、ナノメトロ450TTは、マスクやウェーハ上の最小の欠陥や不純物を検出することができます。機械は0。07ミクロンの最小ラインとスペースを測定することができ、極めて微細な欠陥や形状さえも正確に検出することができます。さらに、このツールは、0。1 Angstromまでの測定で変位および変位角を検出および測定することができ、幾何学的特徴を非常に正確に分析することができます。最後に、アセットは、全面的な運動特性、粒子分析、表面粗さと湿度、および正負の材料応力を測定することによって、包括的な材料分析を提供することができます。黒田ナノメトロ450TTは、パターン認識にニューラルネットワークを活用し、毎秒1000マイクロラインでパターンを測定・検出することができます。また、1ナノメートル以下の精度でオーバーレイオフセットを測定することができ、分光オーバーレイ解析が可能です。また、マスクやウェーハの角度を1ミリラジアンまで測定できるため、高精度な位置決めが可能です。最後に、Nanometro 450TTは直感的でユーザーフレンドリーなグラフィカルユーザーインターフェイスを備えており、システムを簡単かつ直感的に操作できます。また、遠隔操作が可能で、最大限の柔軟性と利便性を実現しています。結論として、黒田ナノメトロ450TTは、高度なマスクおよびウェハ検査機であり、比類のないレベルの解像度と精度を提供することができます。このツールは、高度な光学、計測、画像取得技術と高度なソフトウェア解析プログラムを組み合わせて使用し、マスクやウェーハの包括的かつ高精度な検査および分析を可能にします。さらに、ユーザーフレンドリーなグラフィカルユーザーインターフェイスは、資産を操作しやすく直感的にし、最大限の利便性と柔軟性を提供します。
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