中古 KLA / TENCOR STARlight SL3 Series #9101332 を販売中

KLA/TENCOR STARlight SL3シリーズは、半導体製造業界のマスクとウェーハの両方を詳細に分析するために設計された最先端の検査装置です。このシステムは、高度なイメージング技術を使用して、高い精度と解像度で製品のすべての層を検査します。KLA STARlight SL3シリーズは、SL3000、 SL3200、 SL3100の3つのモデルで構成されています。各モデルには、さまざまな顧客のニーズを満たすように設計された独自の機能があります。このSL3000には、ハイスループット自動ウェーハ検査ユニットと、マスクとウェーハの両方の欠陥を検出するための大面積ウェーハインスペクタが装備されています。SL3200シリーズは、広域ウェーハ検査用に特別に設計されたウェーハ検査機を搭載し、優れた解像度と精度を提供します。SL3100モデルは、完全なウエハデフォーカス機能と、マスクとウェーハの両方を検査するための高解像度センサーを提供します。TENCOR STARlight SL3シリーズは、表面欠陥検査、欠陥分離、CDおよびフィルム測定、オーバーレイ計測、リソグラフィパターン評価、およびダイダイ欠陥検出など、さまざまな検査機能を提供します。これらの各機能は、顧客に製品の品質を包括的に把握できるように設計されています。このツールには、ウェーハ上の粒子汚染物質を検出および分離する粒子検査機能も含まれています。STARlight SL3 Seriesは、優れた製品検査機能を提供するだけでなく、欠陥レビューモジュール、自動欠陥リマッパー、重要寸法解析ツール、欠陥クラスタリングツール、欠陥解析ツールなど、多くの高度なソフトウェア機能も提供しています。これらのソフトウェア機能は、検査プロセス全体のワークフローを最適化し、お客様が欠陥を迅速に発見し、プロセス制御を改善できるようにします。KLA/TENCOR STARlight SL3シリーズは、高性能イメージング技術と高度なソフトウェアツールの両方の世界の最高の組み合わせです。これら2つの機能を組み合わせることで、お客様は製品の品質を総合的に把握できます。このアセットは、生産と研究開発の両方の顧客向けに設計されており、品質を向上させ、サイクルタイムを短縮するために必要なソリューションを提供します。KLA STARlight SL3シリーズの高度なイメージング技術とソフトウェアを活用することで、お客様は製品が最高水準の品質と一貫性を満たしていることを保証することができます。