中古 KLA / TENCOR SP1-TBI #9249676 を販売中

KLA/TENCOR SP1-TBIは、1ピクセルのレベルで集積回路の欠陥を識別するために設計されたマスクおよびウェハ検査装置です。このシステムには、高度な光学技術とオートメーション技術が組み込まれており、汚染物質のマスクやウェーハを検査する際の速度と精度を提供します。KLA SP1T-BIは、シリコンやステンレスなどの多くの種類の材料やメディアを検査するように設計されています。TENCOR SP1 TBIで使用される高度なイメージングユニットは、光学ズーム機能と高解像度デジタルカメラを組み合わせています。この組み合わせにより、200メガピクセルを超える画像解像度が作成されます。高解像度、カラー、ステレオ、3D画像をキャプチャします。これらの画像は、0。05umピクセルピッチで画像を生成するために4メガピクセルCCDで処理されます。KLA SP 1-TBIは、高速イメージプロセッサを使用して、画像を迅速に分析することができます。このプロセッサは高度なアルゴリズムと連携して、特定のウェーハまたはマスクジオメトリが検査されていることを広範囲に把握し、材料に存在する可能性のある欠陥を特定することができます。このプロセッサは、不要なデータや誤検出をフィルタリングしながら画像を自動的に比較することもできます。KLA/TENCOR SP 1-TBIには、エッジ、個々のピクセル、またはその他の物理的特徴を識別できる高度なビジョンソフトウェアも装備されています。このソフトウェアは、0。1マイクロメートルの小さな欠陥を識別するようにプログラムすることができ、ユーザーは肉眼で見落とす可能性のある個々の欠陥と微細な欠陥を検出して検査することができます。さらに、SP 1-TBIには、ウェーハの自動位置決め、自動マッピング機能、ウェーハの欠陥を検出するための一連の分析など、ユーザーにとって有益な機能があります。ユニークで革新的なビューファインダー機能により、データ処理を待たずにリアルタイムで画像を確認できます。KLA SP1 TBIは、非常に繊細なミニチュア回路の開発に不可欠なツールです。半導体業界でよく使用され、品質管理のための詳細な検査を提供します。KLA/TENCOR SP1 TBIは、光学技術と高度な画像処理の組み合わせにより、極めて精密な結果を得ることができます。その堅牢な性能により、このマシンは、さまざまな材料の中で最も小さな欠陥を発見し、検査するための理想的なソリューションです。