中古 KLA / TENCOR SP1 Classic #9250230 を販売中

KLA / TENCOR SP1 Classic
ID: 9250230
ウェーハサイズ: 8"-12"
Wafer surface analysis system, 8"-12".
KLA/TENCOR SP1 Classicは、半導体業界向けに設計されたマスクおよびウェハ検査装置です。高度なデジタルイメージング技術を活用し、迅速で信頼性の高い費用対効果の高い検査プロセスを提供します。KLA SP1 Classicは、ウェーハインスペクター、イメージプロセッサ、ソフトウェアの3つの主要コンポーネントで構成されています。ウェーハインスペクターは、システムの主要なハードウェアコンポーネントです。さまざまな高解像度カメラやセンサーを使用して、高解像度でウェーハの画像を正確にキャプチャできます。さらに、このユニットは、特定のお客様の要件に合わせて自動テストまたはカスタマイズされたテストを実行するように構成することができます。イメージプロセッサは、TENCOR SP 1 CLASSICの重要なコンポーネントであり、高度な欠陥検出と分類を実行できます。特殊なアルゴリズムとパターン認識を使用して、可能な欠陥を検出、識別、フラグ付けします。ウェーハ/基板レベルで欠陥を検出および定義し、ウェーハ上の形状、サイズ、位置を特定するために使用されます。マシンのソフトウェアコンポーネントは、強力でユーザーフレンドリーなインターフェイスです。これにより、オペレータはツールのデータにアクセスし、欠陥を分析し、結果を表示し、さまざまな設定やパラメータを制御することができます。このソフトウェアは、ユーザーにフィードバックとトラブルシューティングツールを提供するためのカスタマイズ可能なレビューおよび分析ツールを提供します。KLA/TENCOR SP 1 CLASSICは、アセットの機能を強化するためにインストールできる幅広い機能アップグレードも提供しています。これらのアップグレードには、強化された照明機能、高度なパターン認識アルゴリズム、および高解像度カメラが含まれます。結論として、SP1 Classicは、汎用性、正確性、および費用対効果を提供する強力なマスクおよびウェーハ検査モデルです。微妙なウェーハ欠陥を測定・検出するための貴重なツールであり、高精度な検査およびプロセス制御に対するお客様の要求に応えるための理想的な選択肢です。
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