中古 KLA / TENCOR / PROMETRIX INS 3300 #9235814 を販売中

KLA/TENCOR/PROMETRIX INS 3300は、半導体デバイスのターゲットに欠陥や汚染物質を検出するための自動ビーム偏向スキャン機構を利用した完全統合マスクおよびウェハ検査装置です。検査対象のマスクやウエハーの高解像度撮影が可能で、正確で信頼性の高い解析が可能です。このユニットは、不要なコストと無駄を排除し、顧客に到達するずっと前に欠陥駆動デバイスを検出して拒否するように設計されています。KLA INS 3300は、幅広い半導体製造、設計、故障解析プロセスでの使用に最適です。TENCOR INS 3300は、ウェーハやマスクの表面を光学的にスキャンする独自の「カンチレバー」設計を採用し、画像を拡大して欠陥や汚染物質を明らかにします。スキャン精度は他に類を見ないもので、スキャン速度は毎秒20ナノメートルを超えます。これは、検査プロセスに必要な最高の精度と信頼性を提供します。機械内部のセンサーは2つの状態の違いを測定することができ、検査官はより正確にウェーハまたはマスクの異常を検出することができます。さらに、PROMETRIX INS 3300は、4秒未満で潜在的な欠陥や汚染物を検出するために高度な独自のアルゴリズムを使用しています。これにより、欠陥検出および汚染検出の最高レベルの精度が保証され、検査官が作業を完了するのにかかる時間が大幅に短縮されます。さらに、追加のアルゴリズムを使用して、デバイス表面のパターンと形状をセグメント化、比較、分類します。全体として、INS 3300は、市場で最も先進的なマスクおよびウェーハ検査ツールを探しているあらゆる半導体メーカーにとって優れた選択肢です。その革新的な設計、信頼性の高い精度、優れた性能により、検査プロセスの精度とスピードを追求する企業にとって最も優れた選択肢の1つです。