中古 KLA / TENCOR / ICOS WI-2000 #293598499 を販売中

ID: 293598499
ヴィンテージ: 2007
2D Wafer inspection system 2007 vintage.
KLA/TENCOR/ICOS WI-2000は、高度な半導体デバイスの製造におけるシステム性能の向上、コスト削減、および柔軟性を提供するマスクおよびウェハ検査装置です。このユニットの統合されたアルゴリズムとプロセッサは、ウェハパッケージ、ワイヤーボンディング、およびチップレベルの検査でより高速で正確な測定を行うように設計されています。KLA WI-2000の検査プラットフォームは、高解像度カメラとイメージングおよびレーザースキャンシステムを備えており、単層および多層半導体デバイスでの迅速かつ正確な欠陥検出を可能にします。その柔軟な設計により、硬質基板から軟質基板まで、さまざまな材料タイプの信頼性の高い検査を行うことができます。このツールの高速イメージングおよびレーザースキャン技術により、サブミクロン欠陥を検出することができます。ICOS WI-2000は、プラットフォームに統合された高効率の光学資産を持ち、スループットを最適化し、コストを削減します。TENCOR WI-2000の検査ソフトウェアは、最高のモデル性能を確保するのに役立ちます。独自のアルゴリズムとプロセッサは、ウェハパッケージ、ワイヤーボンディング、チップレベルの検査で、より高速で信頼性の高い測定を実現するように設計されています。例えば、装置独自の検査アルゴリズムは、重要な寸法を正確に測定し、ブラックパッドやワイヤークラックなどの微細な表面欠陥を検出します。また、高度なデータ収集、分析、レポート機能も備えています。統合された統計プロセス制御(SPC)機能により、リアルタイムのデータ分析とレポート作成が可能です。さらに、統合されたデータ収集および分析により、製品の一貫性を確保し、生産サイクル時間を短縮できます。最後に、WI-2000の柔軟な設計により、製造環境に最適です。ユニットは、新しい生産要件や技術に対応するために簡単に再構成することができます。また、堅牢で信頼性の高い設計により、大量生産に適しています。
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