中古 KLA / TENCOR Candela CS20V #9262876 を販売中

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ID: 9262876
ヴィンテージ: 2017
Surface measurement systems, 4" - 6" Process: LED PSS Sapphire, 4” 2017 vintage.
KLA/TENCOR Candela CS20Vは、高度な半導体製造プロセスの欠陥検出およびプロセス監視機能を提供するように設計されたマスクおよびウェハ検査装置です。このシステムは、ユーザーの介入を最小限に抑えて、マスク、レチクル、フォトマスク、ウェーハの欠陥を検出するように設計されています。最先端のデジタルイメージング技術を搭載し、迅速なウェハスキャンが可能です。このユニットは、マスクやレチクルを素早くスキャンできる完全に自動化された光学ツールヘッドを採用しています。ツールヘッドは高速モータによって駆動され、重要なデバイス機能の画像を正確にキャプチャできる高解像度の光学スキャナが含まれています。画像は、1ミクロン以下の小さな欠陥を検出できる高性能画像処理機によって処理されます。KLA CANDELA CS 20Vは、光学ツールの焦点を自動的に調整し、正確な画像を取得するために必要な時間を劇的に短縮するマルチゾーン自動焦点オプションも備えています。さらに、アセットには、不良レベルの状態を即座に検出できる高度な欠陥レビューモデルが装備されています。この欠陥レビュー装置は、誤報と重大な欠陥を区別するために欠陥を正確に測定する機能も提供します。このシステムは、タッチスクリーンユーザーインターフェイスとグラフィカルユーザーインターフェイス(GUI)を使用して簡単に使用できるように設計されています。これにより、技術者はウェーハスキャンのジョブをすばやくスケジュールし、高度なスキャンパラメータを定義することができます。また、CS20Vには強力な統計解析モジュールがあり、プロセスの傾向を追跡し、歩留まりを最適化するのに役立ちます。全体として、TENCOR CANDELA CS 20-Vは、半導体メーカーが絶えず変化する半導体市場で競争力を維持するために設計された強力なマスクおよびウェハ検査ユニットです。このマシンは、堅牢なデジタルイメージング機能、高度な欠陥レビューツール、直感的なユーザーインターフェイスを備えているため、プロセスを最適化しようとするメーカーにとって理想的な選択肢です。
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