中古 KLA / TENCOR Archer XT+ #117108 を販売中

KLA/TENCOR Archer XT+は、集積回路および半導体パッケージの回路の欠陥を検査するために使用されるマスクおよびウェハ検査装置の一種です。このシステムは、高感度の光学プラットフォームを提供する特別な構成を備えているため、ナノメートル構造の検査に最適です。さらに、このユニットは2つの効率的な干渉計を備えており、1つは可視光を検査し、もう1つは近赤外線（NIR）範囲を検査します。これにより、従来の顕微鏡に比べて被写界深度が広がり、検査工程の精度が向上します。回路や装置のナノメートル構造を通過する光波を利用し、徹底的な評価が可能です。自動化された画像処理を使用することで、このツールはオブジェクトを比較し、ライン端の粗さや連続的な切断などの欠陥を検出することができます。さらに、アセットは、調整可能なズーム倍率などの高度な機能を提供し、詳細な分析と小さな機能の特性評価を可能にします。KLA Archer XT+には直感的なソフトウェアが搭載されており、ユーザーは感度、検査領域、画像取得などのさまざまなパラメータを調整できます。このモデルはまた、オーバーレイや偽のカラーイメージングオプションなど、いくつかの視覚化技術をユーザーに提供します。これにより、ユーザーはあらゆる欠陥をすばやく検出できます。装置の設計により、迅速で簡単なセットアップが可能で、産業用途に最適です。また、検査作業を効率的に自動化するために、システムを他のシステムやマシンに接続することができます。TENCOR Archer XT+はまた、高度な詐欺および偽造検出機能を提供し、安全で信頼性の高いデータセキュリティとトレーサビリティを実現します。Archer XT+は、マスクおよびウェーハ検査に使用可能な最先端のシステムの1つであり、その優れた性能と機能により、ナノメートル構造の検査に最適です。KLA/TENCOR Archer XT+は、信頼性の高い検出機能と直感的なソフトウェアにより、幅広い検査プロセスで優れた結果を提供します。