中古 KLA / TENCOR Archer AIM #9299449 を販売中

KLA/TENCOR Archer AIMは、包括的な品質管理機能を提供するように設計された高度な自動マスクおよびウェーハ検査装置です。光学顕微鏡および最先端の視力解析ソフトウェアを使用して、さまざまな半導体マスクやウェーハの物理的欠陥を検査します。このデバイスは、自動画像検査、パーティクル検出、3D計測、プロセス制御などの自動品質管理手順とシステムを組み合わせて、幅広い検査タスクに比類のない精度と精度をユーザーに提供します。最先端の光学、エレクトロニクス、ソフトウェアプラットフォームにより、マスクやウェーハの包括的な品質管理が可能です。KLA Archer AIMシステムは、リアルタイムクロマティックイメージングを使用して、粒子、構造欠陥、および製造上の欠陥を引き起こす可能性のあるその他の顕微鏡的異常を検出します。堅牢なソフトウェアスイートを使用して、画像を正確に測定および分析し、潜在的な品質問題を特定します。この高度なユニットは、あらゆるレベルの欠陥検査に正確な結果を提供するように設計されています。このマシンはまた、ユーザーの特定の要件に合わせて調整することができる洗練された光学サブシステムを備えています。高解像度イメージングとダイナミックフォーカス機能を採用した統合カメラツールと組み合わせたハイエンド顕微鏡を採用し、優れた画像検査を可能にします。これにより、TENCOR Archer AIMは、あらゆるマスクまたはウェーハの最小の欠陥を検出することができます。Archer AIMアセットは、最適なパフォーマンスを確保するために、プロセスの最適化や制御などの高度な測定および統計機能を実行することができます。また、統合されたアラームシステム、リモートアクセス、レポートを提供し、管理と通信が容易になります。このモデルは、高いレベルのスループットで正確で信頼性の高い結果を提供するように設計されており、ユーザーは時間とコストの両方を節約できます。KLA/TENCOR Archer AIMは半導体産業の品質管理のための理想的な選択です。これまでにないレベルの精度と精度をメーカーに提供し、品質とコンプライアンスの規制を一貫して満たしています。KLA Archer AIMは、さまざまな機能、堅牢なハードウェアおよびソフトウェアプラットフォーム、直感的な制御システムを備えており、マスクおよびウェーハ検査に最適です。