中古 KLA / TENCOR Archer 300+ #9262683 を販売中

KLA/TENCOR Archer 300+マスクおよびウェハ検査装置は、半導体デバイス製造アプリケーションの完全な範囲をサポートするための高精度と再現性を提供します。このシステムは複数の検査モードを備えており、さまざまな製造プロセスに最適であり、各プロセスの特定の要件に合わせて簡単に調整することができます。このユニットは、高度で高精細なイメージングハードウェアと高度な照明技術を利用しています。これにより、フロントモードとバックサイドモードの両方で、さまざまな設計構成で高精度のデバイスを検査することができます。このツールは、1xおよび5xズーム機能を備えたデバイスのイメージングも可能で、バンプ高さ、深さ、ダイツダイスクライブライン測定、および汚染物質の検出などのデバイス機能を詳細に検査することができます。アセットの他の機能としては、高解像度画像キャプチャ、フルフィールドウェハーマッピング、5軸マッピング機能、サブピクセル登録、および統合されたスターおよびダイレベルの欠陥位置決めなどがあります。高度なアルゴリズムにより、同様の価格と性能のシステムに比類のない精度と再現性を備えたダイサイズとバンプ高さの測定が可能です。さらに、KLA Archer 300+は、QC担当者向けの自動レポートジェネレータを備えた使いやすく柔軟なユーザーインターフェイスを備えています。TENCOR Archer 300+は、自動化された検査および欠陥認識ルーチンの豊富なライブラリを提供します。これにより、繰り返し可能なプロセスを簡素化および高速化し、以前は特定されていなかった欠陥を識別することができます。これにより、欠陥解析、金属ライン検査、地形解析、パーティクルカウント防止、イメージオーバーレイ解析、電気試験および検査、オーバーレイ解析、ウェーハ処理などの機能が拡張されます。さらに、KLAは顧客の要求にタイムリーかつ効果的に対応するための包括的なサービスと機器サポートサービスを提供しています。これらのサービスには、システムのインストール、試運転、定期メンテナンス、および最適なパフォーマンスとユニットの稼働時間を確保するためのトレーニングが含まれます。要約すると、Archer 300+は、正確で反復可能なプロセス制御を必要とする操作に優れた性能、汎用性、手頃な価格の組み合わせを提供するマスクおよびウェハ検査機です。このツールは、高精度で歩留まりとスループットの向上を求める中小メーカーに最適です。