中古 KLA / TENCOR Archer 300+ #9223425 を販売中

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KLA / TENCOR Archer 300+
販売された
ID: 9223425
ウェーハサイズ: 12"
ヴィンテージ: 2011
Overlay measurement system, 12" 2011 vintage.
KLA/TENCOR Archer 300+は、半導体製造の欠陥を迅速かつ正確に特定するために設計された、高性能で自動化されたマスクおよびウェハ検査装置です。このシステムは、ダイとマスクレベルの両方を検査することができます。パターン、CD、オーバーレイ、コンポーザー、リソグラフィの欠陥を検出し、優れた精度と検査速度を保証します。KLA Archer 300+には、デュアルカラーCCDカメラを含む高度な光学検査技術が搭載されています。この強力なイメージングユニットは、マスクとダイのレベルの両方を詳細に調べることができ、鮮明でシャープな画像と優れたコントラストを提供します。さらに、特許取得済みの照明・照明制御技術と高度な画像処理アルゴリズムにより、最も微細な欠陥を識別し、分離することができます。印象的な光学機能に加えて、TENCOR Archer 300+には、半導体製造プロセスにおける価値を高めるさまざまな機能が搭載されています。例えば、このツールには、検査プロセスを簡素化し、オペレータの時間を短縮する強力な自動ナビゲーションツールが付属しています。さらに、アセットのソフトウェアを使用すると、複雑なレシピの保存とリコールだけでなく、不具合の詳細なレポートと分析を作成することができます。Archer 300+には、波長固有の照明、可変スポットサイズ、リアルタイムのスペクトル測定などの高度な光学および光関連ソリューションも装備されています。これらのソリューションにより、モデルは複数の色にわたって一貫した強度を検出して適用することができます。全体として、KLA/TENCOR Archer 300+は、精度を最大化し、検査時間を短縮するために設計された強力な自動マスクおよびウェーハ検査装置です。その高度なイメージング技術、ナビゲーションツール、光学ソリューションにより、各ダイが徹底的に検査され、欠陥が迅速に文書化および修正されます。KLA Archer 300+は、信頼性と再現性に優れ、半導体製造プロセスにおいて非常に貴重な部品です。
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