中古 KLA / TENCOR Archer 200 #9364072 を販売中

KLA / TENCOR Archer 200
ID: 9364072
ウェーハサイズ: 8"-12"
Overlay inspection system, 8"-12".
KLA/TENCOR Archer 200は、幅広いウェーハおよびマスク用途における欠陥の検出および除去において最大限の精度を確保するように設計された完全自動マスクおよびウェーハ検査システムです。KLA Archer 200は、高度なイメージングオプティクス、高速検査アルゴリズム、直感的なユーザーインターフェースを備えており、ミクロン精度で50nmの小さな欠陥を正確に検出および分析することができます。TENCOR Archer 200は高速かつ効率的なワークフローを提供し、何千ものウェーハを同時に検査することができます。事前にプログラムされたタスクとアルゴリズムの包括的なライブラリを使用して、ウェーハあたり0。1秒で複数の重要なパラメータを検査し、貴重な時間とリソースを節約します。Archer 200の効率的なアーキテクチャにより、検査結果と画像データを迅速かつ安全に保存でき、ユーザーは後でデータに素早くアクセスしてレビューすることができます。KLA/TENCOR Archer 200は、高速な検査速度に加えて、原子プローブ断層撮影(APT)やレーザー散乱測定などの最先端の画像技術も誇っています。高度なAPT技術により、KLA Archer 200は、2次元および3次元の詳細な欠陥を検出および分析し、欠陥を正確に識別および分類し、誤検出を最小限に抑えることができます。一方、レーザー散乱計は、高感度と広範なダイナミックレンジを提供し、50ナノメートルのサイズの欠陥を検出することができます。TENCOR Archer 200は直感的なユーザーインターフェイスも備えており、ユーザーは設定に素早く簡単にアクセスして変更し、検査結果を確認することができます。グラフィカルインターフェイスは、タスクを完了するためのステップバイステップの指示を表示し、システムへのユーザーアクセスを簡素化し、全体的なユーザビリティを向上させます。Archer 200は高度で信頼性の高い検査システムで、高度なイメージングと検出機能、高速で効率的なワークフロー、安全なデータストレージ、直感的なユーザーインターフェイスを提供します。自動化された制御と高度な検出機能により、半導体やその他の高精度製品の製造にとって貴重なツールとなります。
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