中古 KLA / TENCOR Archer 200 AIM #9407129 を販売中
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KLA/TENCOR Archer 200 AIMは、半導体製造プロセスで使用するために設計された強力なマスクおよびウェハ検査装置です。KLA Archer 200 AIMは、マイクロエレクトロニクス部品を効率的に検査するための最適な性能と信頼性のために設計されています。TENCOR Archer 200 AIMは、半導体プロセスで使用されるような最高級の構造物や材料を検査することができる、ハイエンドで自動化されたinsituマスク検査システムです。このユニットは、最新のイメージング技術、自動欠陥検出およびレビュー技術、パターン認識を活用して、複雑なパターンの欠陥を正確かつ迅速に検出および識別します。Archer 200 AIMには、明るいフィールド、暗いフィールド、UV検査、LEDバックライト、傾斜/回転、側面散乱検査など、あらゆる種類の欠陥または材料を分析するために調整できる幅広い照明機能があります。このマシンには、欠陥検出とマッピング、インダイマッピング、プロセス歩留まり解析、欠陥特性評価など、さまざまな分析タスクを実行するために使用できる高度なソフトウェアが含まれています。また、ロット間検査、クリティカル寸法の測定、ダークフィールドのサブサーフェスイメージング、非表示欠陥の検出など、さまざまな画像比較が可能です。これは、根本原因の問題をすばやく特定し、プロセス全体のサイクル時間を短縮し、製品収量を増加させるために使用できます。KLA/TENCOR Archer 200 AIMは、他のソフトウェアおよびハードウェアシステムと統合して、プロセスを包括的に把握することもできます。これには、仮想計測システムや品質管理システムのソフトウェアや、ロボットや倉庫システムなどのハードウェアオートメーションコンポーネントが含まれます。さらに、KLA Archer 200 AIMは、自動化されたハンドリングとセットアップ、曲面ディスプレイ、ツールコントロールへのアクセス性の向上など、人間工学に基づいた機能を提供します。全体として、TENCOR Archer 200 AIMは、最高性能のマスク検査要件向けに設計された高度なマスクおよびウェーハ検査アセットです。幅広い欠陥タイプを迅速かつ正確に検出し、さまざまな分析タスクを実行してプロセスの歩留まりを向上させ、プロセスのサイクル時間を短縮することができます。このモデルはまた、優れた人間工学を提供し、プロセスの包括的なビューを可能にするために、他のソフトウェアおよびハードウェアコンポーネントと容易に統合することができます。
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