中古 KLA / TENCOR Archer 100 #9372751 を販売中

KLA/TENCOR Archer 100は、先進的な光学系と画像処理を組み合わせ、半導体製造における欠陥源の早期発見と診断を可能にするマスクおよびウェハ検査装置です。モジュラーアーキテクチャと高度な機能により、KLA Archer 100は従来の検査および欠陥分類技術に関連する時間とコストを大幅に削減し、製品品質に自信を持ってユーザーに提供します。このシステムは、自動ダイバダイスクロールと業界最高の低倍率イメージング機能を組み合わせた独自の相関光学顕微鏡CropScan™を備えており、自動検査に使用される同じビュー内で欠陥を迅速かつ正確に分類します。また、先進的なGVision™画像取得・解析機を活用して欠陥を検出し、欠陥をクリティカル、ノンクリティカル、またはノンディフェクトに分類し、半導体プロセスのすべての段階で製品保証を提供します。TENCOR Archer 100を使用すると、最大32K解像度で最大8インチのウェーハの詳細なダイ画像をキャプチャでき、数ミクロンまでの欠陥を高精細に識別できます。パターンマッチングを自動化することで、最も小さな欠陥や微細な欠陥を特定してマークすることができます。また、ユーザーが設定した基準に基づいてマスク/ウェーハを自動的に拒否または受け入れます。簡単で直感的な操作を実現するために、Archer 100はタッチベースのグラフィカルユーザーインターフェイスを備えており、ユーザーは簡単に資産を制御し、新しいレシピをすばやく設計することができます。ソフトウェアには、製造のトレーサビリティと再現性を確保するための強力なデータ管理とレポート生成機能も含まれています。KLA/TENCOR Archer 100は既存のワークフローに統合でき、さまざまな半導体製造および計測機器と互換性があり、ユーザーに半導体製造業向けのソリューションの拡大を続けるエコシステムを提供します。このモデルは、故障率が低く、設置が容易なため、マスクやウェーハの検査に信頼性が高く費用対効果の高いソリューションをユーザーに提供するように設計されています。