中古 KLA / TENCOR 3905 #9303266 を販売中

KLA / TENCOR 3905
ID: 9303266
Wafer Inspection system.
KLA/TENCOR 3905は、欠陥の識別と検証を提供するように設計された高速マスクおよびウェーハ検査装置です。このシステムは、チップやその他の半導体のリソグラフィープロセスにおける潜在的な欠陥を特定するための費用対効果の高い信頼性の高い方法を提供します。KLA 3905は、高度なデジタル信号プロセッサ(DSP)を搭載しており、欠陥の迅速な検出と分類を可能にします。このデバイスには、欠陥の高解像度画像を提供するイメージングサブシステムが装備されています。また、高度なエッジ検出アルゴリズムを備えており、エッジ、亀裂、ぼやけなどの異常を正確に識別することができます。また、垂直方向と水平方向の両方の照明を提供する照明サブシステムを備えており、互いに重なっていても欠陥を明確に識別することができます。TENCOR 3905は、他のほとんどの検査技術と比較して最大10倍のスピードで検査を行うことができるため、スピード駆動型検査操作のための貴重なツールとなります。このユニットはまた、2種類の検査精度を提供しています-手動(非常に小さいサイズの臨界欠陥の場合)と拡張(より大きな臨界欠陥の場合)。これはより大きい欠陥の認識の正確さを可能にします。さらに、3905は28nmの特徴サイズの詳細な画像をキャプチャすることができ、複雑なチップ設計で使用することができます。速度と精度に加えて、KLA/TENCOR 3905は低メンテナンスであるように設計されています。年間8時間未満のメンテナンスが必要で、消耗品が不足しているため、手頃な価格で信頼性の高いデバイスです。その様々な機能とともに、マシンはクリーンルーム環境での動作のために設計されており、受け入れられた業界標準に完全に準拠しています。全体として、KLA 3905は、半導体製造のための完璧なリソグラフィーを確保しようとする人々のための効果的で信頼性の高いマスクおよびウェーハ検査ツールです。スピード、精度、費用対効果を兼ね備えているため、半導体業界に関わるすべての人にとって貴重な資産となります。
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