中古 KLA / TENCOR 2800 #9183007 を販売中

KLA / TENCOR 2800
ID: 9183007
ウェーハサイズ: 12"
ヴィンテージ: 2008
Inspection system, 12" 2008 vintage.
KLA/TENCOR 2800は、半導体部品の最高品質の製造プロセスを保証するために設計されたマスクおよびウェハ検査装置です。このシステムは、半導体製品の最高品質を保証するための完全で安全なユニットを提供します。KLA 2800は、目視検査機能を備えた高精細イメージング技術を使用して、チップまたはダイ構造の詳細なマップを作成します。これにより、マシンは欠陥や設計の不規則性を識別することができます。統合欠陥検出アルゴリズムは、潜在的な欠陥と異常を識別するために使用されます。このツールは、高度な機能認識、ダイとダイの比較、およびダイ領域の詳細な分析を可能にする欠陥特性評価アルゴリズムなどの便利な機能の配列を提供します。また、多数のウェーハやマスクの設計を迅速かつ効率的に検査することができます。これにより、ウェーハの歩留まりが向上し、生産サイクルが短縮されます。また、マスクやウェーハの設計を迅速かつ効率的に改善するための設計強化ツールも内蔵しています。設計最適化ツールは、設計者が欠陥をすばやく特定し、それらを修正するソリューションを設計するのに役立ちます。このツールにより、設計者は設計上の欠陥を特定し、生産上の欠陥を引き起こさないようにすることもできます。TENCOR 2800は、画像を自動処理するための包括的な3Dモデルと最先端のソフトウェアパッケージも提供します。これにより、金属や金属酸化物表面などの複雑なパターンをキャプチャして検査することができます。また、最先端の欠陥検出および解析機能も統合されています。マルチモード欠陥検出機能は、優れた3次元画質と精度で、重大および軽微な欠陥を検出します。高度な技術は、生産エラーとファインパターン配置の欠陥を迅速かつ正確に検出します。2800は生産の歩留まりを最大にし、製品品質の最高レベルを保障するように設計されている優秀なマスクおよびウェーハの点検単位です。その高度な機能と機能、その自動設計最適化と欠陥検出機能と組み合わせて、それは任意の半導体製造プロセスのための理想的なマシンになります。
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