中古 KLA / TENCOR 2350 #9276055 を販売中

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ID: 9276055
ヴィンテージ: 2001
High-resolution imaging inspection system 2001 vintage.
KLA/TENCOR 2350は、大型マスクとウェハの両方の欠陥を検査するために設計された先進的な光学検査装置です。この最先端のシステムは、高解像度イメージング技術と高度なアルゴリズムを使用して、デバイスのパフォーマンスに影響を与える可能性のある不規則性または欠陥を検出します。このマスク&ウェハ検査ユニットは、非常に小さな構造の3D画像を生成し、欠陥検出精度を向上させることができます。brightfield/darkfieldイメージング機能により、基板上の最小の欠陥が正確に識別され、文書化されます。また、マルチヘッドのハイスループットスキャンエンジンを搭載しており、市場の他のシステムよりもはるかに高速な検査が可能です。KLA 2350は、デバイスメーカー、ナノレベルの研究施設、半導体製造プラントに最適です。強力で直感的な画像キャプチャソフトウェアを使用すると、欠陥の識別が簡単になります。このツールには、タスク指向のグラフィカルユーザーインターフェイスも含まれているため、オペレータが簡単に使用できます。さらに、TENCOR 2350には、オープン/ショート回路、チップ/ダイスタッキング、パターンドロップ、円形欠陥、ラインの不均衡など、さまざまな欠陥を検出できる画像解析ツールが搭載されています。資産のソフトウェアに埋め込まれた強力なアルゴリズムにより、これらの種類のエラーを簡単に識別できます。2350にはSPF/APC補償機能も内蔵されており、単層と二層共に高感度です。これらの機能を組み合わせることで、このモデルはプロセスの歩留まりを改善し、プロセス障害を排除するための理想的なソリューションとなります。また、KLA/TENCOR 2350は低メンテナンス運用向けに設計されており、あらゆるビジネスにとって優れた長期投資となっています。また、快適設計によりオペレータの操作が容易になり、長時間の作業に伴う疲労を軽減します。全体的に、KLA 2350は、正確で信頼性の高い欠陥検出と識別を提供することができる非常に汎用性の高いマスク&ウェーハ検査装置です。高度なイメージング技術、ユーザーフレンドリーなソフトウェアインターフェイス、欠陥解析機能を備えたこのシステムは、さまざまなビジネスに最適です。
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