中古 KLA / TENCOR 2139 #9249043 を販売中

KLA/TENCOR 2139は、半導体およびエレクトロニクス製造環境における自動マスクおよびウェーハ検査用に設計された主要な保護製品です。業界の厳しい検査要件に対し、従来の検査方法よりも高い精度で簡単で信頼性の高いソリューションを提供します。KLA 2139装置は、降伏損失を引き起こし、生産スループットを低下させる可能性のある汚れ、汚染物質、その他の欠陥を特定するのに役立ちます。TENCOR 2139は、イメージング、ウェーハ形状認識、画像セグメンテーション、画像相関などの先進技術を1つのシステムで組み合わせて構築されています。このユニットは、マスクパターンとウェーハ表面トポグラフィの包括的な検査のために、伝統的な3Dイメージングと3Dイメージングの両方を統合しています。これにより、傷、パターン欠陥、不規則なパターン、ボイド、粒子、異物、熱損傷などの非常に小さな欠陥を検出することができます。2139の主な利点の1つは、ナノメートルスケールと正確さレベルまでの欠陥を検出する能力です。さらに、高速フーリエ変換（FFT）、ピクセル平均化、統計操作など、さまざまな技術を使用して、より洗練された検査を可能にします。また、検査を簡素化するためのスマートな欠陥分類を提供します。KLA/TENCOR 2139マシンは、高速スキャン速度、連続ベルト速度調整、高度な計測プロセスにより、高いスループットと信頼性の高い検査結果を提供します。さらに、200mmまでの大型基板の検査が可能で、大量生産環境に最適です。KLA 2139ツールは、SEMI F7やSDE-6などの業界標準を満たすように設計されており、CE、 UL、 FCCなどの最も関連する国際的な安全基準に準拠しています。さらに、他の製品および工場製造ソリューションとの高い互換性を提供し、シームレスな統合とよりスマートな通信を可能にします。全体として、TENCOR 2139アセットは、半導体およびエレクトロニクス業界における自動マスクおよびウェーハ検査のための強力で効率的でインテリジェントなソリューションです。市場をリードする先進技術と機能の組み合わせにより、欠陥を迅速かつ正確に検出および分類し、シームレスな生産と高品質の出力を保証します。厳格な業界標準と要件を満たし、大量生産ラインの厳しいニーズを満たすために理想的です。