中古 KLA / TENCOR 2138 #191420 を販売中

KLA / TENCOR 2138
ID: 191420
Wafer inspection systems.
KLA/TENCOR 2138マスクおよびウェーハ検査装置は、ハイエンド半導体構造および電子デバイスの欠陥や製品故障の原因となる可能性のある損傷を検査するために使用される自動、高速、精密ツールです。検査システムは、紫外線(UV)、紫外線(UV-Vis)、近赤外線(NIR)、赤外線(IR)イメージング技術などの強力な高度なイメージング技術を使用して、粒子、異物、異物、異物、異物、異常を検出します。このユニットは、特定のアプリケーションや技術に対応するために、顧客が利用できるさまざまなオプションを備えたマスク基板とウェーハ基板の両方を検査するように設計されています。ユーザーのアプリケーションに合わせてカスタマイズ可能な光源、イメージング波長を制御するオンボードフィルターホイール、画像を取得および分析するためのカメラモジュールと光学アセンブリを備えています。KLA 2138は、業界要件を満たす、またはそれを超える検査速度を提供するように設計されており、中容量の検査ニーズに適しています。画像処理技術を強化したことで、肉眼検査だけでは判別できない欠陥、不均一な表面、不明瞭な領域変化などの欠陥を検出することができます。マイクロメータレベルの精度、バックグラウンドノイズの低さ、検査速度の高速化など、マイクロエレクトロニクス、太陽光発電、光学などの分野での使用に最適です。人間工学に基づいた設計により、操作が簡単になり、統合されたソフトウェアにより、ユーザーはツールの操作を制御し、データを保存および分析し、カスタム検査テンプレートを作成することができます。TENCOR 2138はまた、フォトマスクやウェーハの詳細な検査を可能にする画像スライス用のオプションのイメージングインターフェイスを備えています。欠陥の検出・測定、動的・静的画像の取得、平坦性基板の解析、生産工程の特性評価、プロセス制御、トラブルシューティングの定量データの提供などに使用できます。アセットのインタフェース機能には、デジタルカメラ制御、デジタル信号出力、および外部デバイスと結合するためのUSBポートが含まれます。直立または反転のいずれかの構成にインストールすることができ、さまざまな検査アプリケーションに非常に汎用性の高いツールです。2138マスクおよびウェーハ検査モデルは、半導体製造および検査業界のお客様が必要とする特定のニーズと用途に合わせて調整された、強力で信頼性が高く柔軟なツールです。高度なイメージング技術、人間工学に基づいた設計、カスタマイズ可能な機能により、マスクおよびウェーハの検査および分析に最適なソリューションです。
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