中古 KLA / TENCOR 2131E #9384645 を販売中

ID: 9384645
ヴィンテージ: 1994
Wafer inspection system 1994 vintage.
KLA/TENCOR 2131Eは、半導体業界向けに設計された高性能マスクおよびウェハ検査装置です。これは、KLAのマルチチャネル、画像ベースの検査システムのシリーズの最新です。このシステムは、ウェーハ、マスク、その他の複合部品を検査するための包括的かつ体系的なアプローチを提供する高度な計算ツールと技術の配列を利用しています。KLA 2131Eは、TENCOR TrueImage Technologyプラットフォームに基づいており、一連の高度な検査アルゴリズムとイメージングツールで構成されています。検査対象物の表面の汚染、欠陥、欠陥、変動を検知することができます。さらに、機械はサイズ、角度、公差、および他の重要な変数を測定できます。高度な検査ツールは、特許取得済みのMaxBright Sensor Technologyを使用しており、従来モデルよりも優れた画質を実現しています。この技術は、検査対象物の表面の詳細が見逃されないようにします。高精度のマルチメガピクセルCMOSイメージングセンサーを採用し、1フレームあたり最大1,200万画素を提供します。また、TENCOR 2131 Eは、効率的かつ包括的な欠陥評価用に特別に設計された幅広い検査プログラムを提供しています。この最先端のモデルは直感的なユーザーインターフェイスを備えており、ユーザーは最も適切な検査基準とパラメータを簡単に選択できます。2131 Eは、1時間あたり最大14000ウェーハの最大スループットレートで、高速で信頼性の高いパフォーマンスを提供します。この装置は、クラス最高のスループット・レートを提供し、動作中に高い使用率を達成するように設計されています。また、サイクル時間を短縮し、オンザフライのデータ収集と分析のほぼ無限の機能を提供します。また、KLA/TENCOR 2131 Eには、高度な故障診断システムが搭載されています。これにより、ユーザーは潜在的な問題をすばやく特定してトラブルシューティングし、ダウンタイムを削減して効率を向上させることができます。このユニットはまた、リアルタイムのウェーハ追跡と分析を可能にし、セットアップ時間を大幅に短縮し、生産を高速化します。全体として、2131Eは強力で正確で効率的なマスクおよびウェーハ検査機であり、最高品質の結果を保証するのに役立ちます。その先進的な機能は、市場で最も先進的なシステムの1つであり、多くの企業や業界にとって理想的なソリューションです。
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