中古 KLA / ICOS CI-T120 #9256279 を販売中

KLA/ICOS CI-T120 Mask and Wafer Inspection Equipmentは、先進的な半導体包装に使用されるマスクおよびウェーハの検査用に設計された先進的なイメージングソリューションです。高度な光学系と高感度イメージングセンサーを組み合わせ、優れた性能と正確な欠陥検査と分類を提供します。KLA CI T120には、レンズとミラーを組み合わせた光学ユニットが組み込まれています。これにより、非常に高解像度の画像をキャプチャして詳細な検査結果を作成できます。さらに、ICOS CI T-120には、欠陥を直接検出するための高度なセンサーアレイが装備されています。センサーアレイは、サンプル表面から散乱した光のパターンをキャプチャすることで、接触穴や溝などの表面の欠陥を検出することができます。CI T120は、欠陥に対する優れた精度と感度を提供します。その高精度なパターン検出アルゴリズムは、サブミクロン分解能で欠陥を検出し、リアルタイムでオペレータに警告し、手動検査に必要な時間を短縮することができます。さらに、このマシンは同じサンプルで撮影された2つの画像の比較をサポートしています。これは、2つの画像間の変更を識別し、潜在的な欠陥をユーザーに通知するために使用できます。ICOS CI T120には最先端の画像処理エンジンが搭載されています。これにより、マスクパターンを任意の方向に調整したり、特定の画像フィーチャーのコントラストや明るさを変更したりできます。このアセットには、処理前後の閾値レベルの変化を測定し、フィルターを画像に適用する機能もあり、不要なノイズを排除して正確な検査結果を保証します。KLA CI T-120は、画像や欠陥データを保存するためのデジタルライブラリを利用しており、データセットを簡単に呼び出し、結果を確認することができます。また、ウェブまたはイーサネット接続を介して遠隔からアクセスすることができ、モバイルデバイスマスクおよびウェーハ検査用の信頼性と安全性の高いソリューションです。全体として、ICOS CI-T120マスクおよびウェーハ検査モデルは、優れた画質と正確な欠陥検出を提供するように設計された強力で洗練されたイメージングソリューションです。半導体パッケージングで使用されるマスクやウエハーの検査に、信頼性と安全性の高いソリューションをお探しのお客様に最適です。