中古 KLA / ICOS CI-T120 #9247435 を販売中

KLA/ICOS CI-T120スロット付き検査装置は、イメージングベースのマスクおよびウェハ検査ツールです。高輝度の光学イメージング技術により、ICマスクやICウエハ検査に最適な焦点深度と画像解像度を提供します。欠陥検出、高精度、および高スループットのための高度な機能を備えたKLA CI T120は、マスクおよびウェーハ生産ラインのアプリケーションに最適です。ICOS CI T-120は、プリセットに応じて、3、4、または5倍の拡張を備えた大野光学およびDirect Linear Detector （DLD）を使用します。照明システムは検査目的とは独立して動作し、幅広い照明パラメータを設定することができます。より高い解像度を必要とするサンプルでは、低倍率の目的が利用できます。KLA/ICOS CI T120の高度なソフトウェアとハードウェアにより、さまざまな検査モードを統合できます。ライン、円、正方形、エリアなど、さまざまな種類のオブジェクトを検査および測定できます。検査エリアでは、隔離された欠陥や接続された欠陥を自動的に検出できます。誤報を最小限に抑えることを目的として複雑な欠陥を検出し、複数の角度から欠陥を解析することができます。ICOS CI T120には、強力なフィルタアルゴリズム、メモリシステム、およびその他の機能が搭載されており、マシンは表面上と地下の両方の欠陥を検出できます。NVシリーズソフトウェア（NVSE）は、プロセス検査、後処理、測定、登録にデジタルイメージを組み込んだオールインワンサービスソフトウェアです。CI T120のサンプル寿命は5年以上、歩留まり率は99。9％以上です。コンパクトな構造で設置しやすいように設計されています。ツール内の温度は専用の冷却資産によって調整され、その可変方向強制空冷出口は、性能に影響を与えることなく熱を放散するための最適な空気の流れを確保するように設計されています。CI T-120は、USB、 Ethernet、 RS-232など、さまざまなインターフェイスをサポートしています。ハイエンドCPUプロセッサを含む高性能ハードウェアとソフトウェアは、最大限の柔軟性と使いやすさを目指して設計されています。シンプルなユーザーインターフェイスにより、ユーザーは簡単にモデルを設定、監視、およびプログラムすることができます。CI-T120は、高品質の画像、高速かつ正確な欠陥検出、および高スループットをユーザーに提供する効果的で信頼性の高いマスクおよびウェーハ検査装置です。高度なハードウェア、ソフトウェア、および機能でサポートされているため、さまざまなアプリケーションに対するユーザーの高精度で高スループットの要件を満たすように設計されています。