中古 KLA / ICOS CI-T120 #9195098 を販売中

KLA/ICOS CI-T120は、デバイス製造のための高精度で信頼性の高い欠陥検査機能を提供するように設計された最先端のマスクおよびウェハ検査装置です。このシステムは、高度な光学イメージング機能を備えており、複数のレベルでサンプルを高解像度で検査できます。イメージングユニットは、サンプル検査用の精密光学系を備えた高品質のCCDカメラで構成されています。高度な照明と画像キャプチャ技術を使用して、最小の欠陥を検出して測定することができます。さらに、このマシンは、必要に応じてより高い倍率で領域を表示するための組み込み顕微鏡を備えています。このツールは、データを迅速かつ正確に分析するためのツールを備えた直感的なユーザーインターフェイスを備えています。スキャン検索機能は、粒子、欠陥、汚染物質などの非均一性をすばやく識別できます。さらに、資産データを複数の形式で保存できるため、効率的なアーカイブと検索が可能です。また、迅速なスキャン時間と広域カバレッジを利用して、複数のウエハを迅速かつ正確に検出することができます。この装置は統合アルゴリズムを使用して、高精度の画像とスキャンデータの正確な分析を提供します。さらに、複数の検査アルゴリズムを使用して、マスクの平坦性、マスク登録などの特定のニーズに対応します。KLA CI T120は、重要なマスクやウェーハの欠陥情報を抽出するのに適しており、品質管理のための信頼性の高いユニットを提供します。そのデータキャプチャ機能は、幅広いテストシナリオのための複数の検査アルゴリズムでスキャンデータの広範な分析を可能にします。直感的なユーザーインターフェイスにより、検査結果の迅速なナビゲーションと分析が可能になり、正確で信頼性の高い操作が保証されます。このマシンの高精度イメージング機能と直感的なユーザーインターフェースにより、生産品質管理に理想的なツールとなります。