中古 KLA / ICOS CI-T120 #9162541 を販売中

KLA / ICOS CI-T120
ID: 9162541
ヴィンテージ: 2008
Inspection system For GW 10H 3D GW Inspection (10) Heads Automatic pitch conversion X1 Input module X2 & X3 Output modules Windows OS: Win Xp Extra single tray sorting bin (X4) Display: LCD display, 17" Gull wing 3D inspection BGA 3D and bottom PVI inspection No 2D QFN / BCC Univ top plate Mark and aPVI option No burr inspection Mark inspection 45mm Lens EXT8 w/o filter: 60 mm, UV filter Barcode scanner USB ZCAL Gloden unit CSP Gloden unit GW Gloden unit GWT12 Gloden unit GW Inspection tool kit BGA Inspection tool kit Z1 10 Head CI-T1x0 Z2 Dual fixed head No ionizer kit SUNX standard Tray orientation kit (nf) Air blower set X1/LIM and MI: Only LIM 2008 vintage.
KLA/ICOS CI-T120マスク&ウェハ検査装置は、様々な電子製品で使用される集積回路の製造用に設計されたイメージングツールです。不純物や欠陥に対するマスクやウェーハの迅速かつ非破壊的なスキャンと測定を提供します。このシステムは、高度な計測、欠陥レビュー、およびプロセス制御技術を統合して、信頼性の高い検査と正確な結果を保証します。KLA CI T120は、1時間あたり最大3850ウェーハのスループットを持つ高性能ユニットです。0。5micron以下の小さな欠陥でも検出できるように設計されています。高度な照明およびイメージング技術を使用して、正確な3Dウェーハトポグラフィ測定を提供します。このマシンには、多目的なカラーカメラと連続した360°回転可能な視野を持つ検査ヘッドが含まれています。このツールは自動パーティショニング機能を備えており、各マスク/ウェーハ領域を自動的に認識、識別、ラベル付けし、正確なアライメント、登録、比較を提供します。ミスアライメントと回転欠陥検出の両方をサポートし、分類、レビュー、欠陥カウントを可能にします。また、欠陥の設計とサイズを評価することができ、粒子や粒子クラスターなどの一般的な欠陥を検出することができます。ICOS CI T-120には、Digital Marker Assisted RegistrationやAuto Focusなどの強力なウェーハ測定ツールが含まれており、迅速かつ正確なウェーハ位置を確保します。高度なLED照明を使用して、高精度のイメージングと分析を行います。また、自動追跡により、迅速かつ一貫したウェーハデータの収集、分析、抽出が可能です。さらに、アセットのエレクトロニクスとソフトウェアパッケージは、高速なデータ転送と通信を可能にします。さらに、KLA/ICOS CI T-120モデルは、生産バッチの広い範囲にわたって優れたプロセス一貫性を持ち、信頼性と再現性の高い結果を保証し、簡単な操作とメンテナンスのために設計されています。Equipment Monitor機能は、関連するすべてのプロセスパラメータの詳細なリアルタイム図を提供し、メンテナンスと最適化を容易にします。ユーザーフレンドリーなWorkbenchソフトウェアを使用すると、ユーザーはアイコン、ツール、スクリプト、アクションの動作をカスタマイズして最適化またはプロセス制御を行うことができます。
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