中古 KLA / ICOS CI-T120 #9101540 を販売中

KLA/ICOS CI-T120は、高度な半導体製造用に設計された高精度マスクおよびウェハ検査装置です。先進的なマスクおよびウェーハ欠陥検出および診断機能を備えているため、最先端の半導体デバイスの製造に最適です。KLA CI T120は、2つのセンサーと照明システムを1つのユニットに組み合わせたモジュラープラットフォームに基づいています。これらのシステムには、CMOSエリアセンサー、特許取得済みのIQ²光学ソリューション、および高度な照明システムが含まれます。エリアセンサーは24メガピクセルの解像度を持ち、コントラストと解像度を向上させるための特別な近赤外線チャネルを備えています。IQ²光学ユニットは、350xまでの倍率と、高解像度イメージングのための広い被写界深度を提供します。照明装置は、LEDとUVの両方の光源を備えており、急速な光源化による汎用性の高いアプリケーションを可能にします。ICOS CI T-120は、包括的な欠陥レビューおよび検出機能も提供します。マスク欠陥、パターン欠陥、パターンコピー、フィルム汚染レビューなど、さまざまな欠陥レビューを実行します。また、パーティクル検出やレビュー、形状測定などの自動欠陥検出も行います。KLA CI T-120は、広いダイナミックレンジと高いフィールド強度を備えており、最大の欠陥検出と測定精度を提供します。ICOS CI T120は使いやすく、高度な自動欠陥レビューモードのおかげで迅速な結果を提供します。半導体製造プロセスに統合されるように設計されており、ウェーハボンディングやチップ包装などの先進的な半導体プロセス向けの包括的な検査ソリューションを提供しています。このツールには、高速データ分析、画像操作、レポート作成を可能にする強力なソフトウェアツールも装備されています。要するに、KLA/ICOS CI T-120は、最も要求の厳しい半導体アプリケーション向けに設計された高精度マスクおよびウェーハ検査アセットです。その包括的な欠陥検出と診断機能と使いやすさは、高度な半導体デバイスの製造に最適なソリューションです。