中古 KLA / ICOS CI-T120 #293660494 を販売中

KLA/ICOS CI-T120マスクおよびウェハ検査装置は、半導体製造における品質管理コストとプロセス時間を削減するために設計された高度な計測ソリューションです。高解像度イメージングおよび3Dスキャン技術を使用して、マスクおよびウェーハデバイスの高速かつ高精度な解析を提供します。広い視野と自動化されたウェーハマッピングにより、スループット、精度、プロセス歩留まりが向上します。KLA CI T120には、オートフォーカスモジュール、3D表面計測ユニット、高解像度イメージングマシンなど、さまざまな交換可能なツールとセンサーが含まれています。フォーカスモジュールを使用すると、重要寸法（CD）、オーバーレイ、および垂直構造の高速かつ正確な測定を実行できます。高解像度イメージングにより、ウェハマッピングと比類のない3Dサーフェスメトロジーを高速に提供できます。マルチフォーカス、マルチビュー機能により、幅広いウェーハサイズとマスクフォーマットにアセットを設定でき、直感的なユーザーインターフェイスによりナビゲーションと制御が容易になります。ICOS CI T-120は、自動化されたプロセスレシピと信頼性の高いデータ分析を備えており、セットアップ時間とオペレータエラーを削減します。自動化されたウェハマッピングにより、ユーザーはデバイスの任意の部分を迅速かつ正確にイメージすることができます。統合された欠陥レビューおよびレポートツールは、プロセスの信頼性と歩留まりを向上させるのに役立ちます。全体として、CI T-120マスクおよびウェーハ検査モデルは、半導体メーカーにとって高度で高精度で費用対効果の高いソリューションです。交換可能なツールとセンサー、自動化されたプロセス、コラボレーション機能を備えているため、ユーザーは最高レベルの精度、スループット、プロセス歩留まりを達成できます。