中古 KLA / ICOS CI 9450 #9253653 を販売中

KLA/ICOS CI 9450マスクおよびウェハ検査装置は、半導体ICリソグラフィおよびICパッケージングアプリケーションの欠陥を識別および評価するために設計された包括的かつ包括的なマスクおよびウェハイメージシステムです。最新の光学アルゴリズムとビジョンアルゴリズム、最先端のセンサ、ハイエンドビジョン処理ハードウェアを組み合わせ、優れた欠陥検出と分類性能を提供します。KLA CI 9450マスクおよびウェハ検査機には、幅広い測定機能を備えた高解像度カメラが装備されています。最大100ミクロンの広い視野を持つこのツールは、ウェーハのすべてのタイプとサイズのウェーハ欠陥を検出および測定することができます。カメラには自動ズーム機能も搭載しており、正確かつ再現性の高い欠陥検出が可能です。ICOS CI-9450マスクおよびウェーハ検査資産は、特許取得済みの最先端のアルゴリズムを使用して欠陥特性評価と分類を行います。これらのアルゴリズムは、高い精度と信頼性で欠陥を識別することができます。このモデルには、異なるタイプの欠陥を区別し、サイズ、タイプなどの特性に応じて分類できる高度な分類装置も装備されています。CI 9450マスクおよびウエハ検査システムは高速動作用に設計されており、柔軟なオペレータ制御を提供し、ユーザーは生産要件に合わせて操作をカスタマイズできます。また、このユニットは拡張性が高く、生産要件の増加に伴い、ユーザーはマシンの機能を拡張することができます。CI-9450マスクおよびウェーハ検査ツールは、幅広い故障検出および解析機能を備えて設計されており、故障の迅速かつ正確な識別を可能にします。フォルト解析機能により、アセットはフォルトの種類、位置、重大度を正確に特定し、詳細なレポートを提供してさらなる分析を行うことができます。KLA CI-9450マスクおよびウェハ検査モデルは、高性能の欠陥識別と特性評価を提供し、リソグラフィおよびICパッケージングアプリケーションの成功を確実にする信頼性の高い汎用性の高いツールです。特許取得済みの高度なアルゴリズムと費用対効果により、あらゆるIC生産セットアップに不可欠なコンポーネントです。