中古 KLA / ICOS CI 8450 #9124470 を販売中

KLA/ICOS CI 8450は、初期の製造段階でフォトマスクや半導体ウェーハの欠陥を検出するために設計されたマスクおよびウェーハ検査装置です。高精度の光学・イメージングシステムを搭載し、高度なエレクトロニクスにより、マスクやウェーハの幅広い欠陥の検出を極めた精度でサポートします。これにより、再現性の高い最も微細な欠陥を識別することができます。KLA CI 8450は、最先端の光学イメージングシステムと高速デジタル画像処理を備え、スループットと生産効率を最大限に高めます。革新的なクワッドチャネル技術を使用して、測定誤差を低減することで精度を向上させます。このユニットは、マスクやウェーハの検査で一般的な課題である両面コーティングの検査を行うことができます。ICOS CI 8450のソフトウェアは、複数のソースからデータをキャプチャして分析することができます。データを迅速かつ正確に処理して欠陥追跡とレポートを実行し、生産における包括的な欠陥監視と管理を可能にします。さらに、ソフトウェアには高度なアルゴリズムが組み込まれており、欠陥検出をサポートしています。また、直感的なユーザーインターフェイスを備えており、簡単に欠陥の認識と検査が可能です。また、並列比較、3D視覚化、自動欠陥抽出などの高度な機能もサポートしています。また、効率的なデータ管理を可能にするために、幅広い本番データフォーマットと互換性があります。さらに、CI 8450は、最適な価格性能比を提供するように設計された手頃な価格の検査ツールです。それは個々の顧客の要求に合わせて調整することができ、速い生産の進水のための最大の柔軟性そして信頼性を提供します。要約すると、KLA/ICOS CI 8450は、フォトマスクやウェーハの欠陥を早期に検出するための最高精度を提供する高度なマスクおよびウェーハ検査アセットです。その革新的な光学設計、高速画像処理、高度なアルゴリズム、およびユーザーフレンドリーなインターフェイスは、迅速かつ正確に欠陥を識別するための理想的な選択肢です。