中古 KLA / ICOS CI 8250 #9099090 を販売中

KLA/ICOS CI 8250は、半導体製造プロセス・フローに統合するために特別に設計された高度な自動ウェーハおよびマスク検査装置です。このシステムは、200 KVモンテカルロX線技術と高度な自動欠陥検出および分類アルゴリズムを使用して、最も詳細な画像処理を提供し、最高レベルのウェーハおよびマスク品質を保証します。8250は堅牢なパターン認識エンジンを備えており、ウェーハ基板とマスク基板の両方の欠陥を自動検出できます。これにより、ボイド、マーク、ブレークなど、最も複雑な欠陥を検出することができます。組み込みカスタム欠陥レビューモードは、最適な欠陥検出と分類精度のための高度な操作とレビュー機能も提供します。このマシンは広範囲の画像処理ワークスペースを備えており、1回のスキャンで最大2万枚のウェーハまたはマスク画像を識別できます。広いエリアを迅速に検査できるため、8250は検査時間を大幅に短縮し、正確な結果を迅速に提供できます。8250は、半導体生産工場のプロセス・フローに統合されるように設計されています。それは工場の必要性そして適用に適するためにカスタマイズ可能である十分に機能的なフロントエンドインターフェイスを含んでいます。また、強力なバックエンドデータストレージと検索ツールが含まれており、高いデータ整合性とセキュリティを確保します。この資産は信頼性が高く、操作が容易で、繰り返し可能で正確な検査結果を提供し、さまざまな生産ラインのアプリケーションで使用することができます。これは、最も複雑なウェーハやマスクパターンや機能を検査する場合でも、優れた結果を提供します。速度、精度、柔軟性を兼ね備えたKLA CI 8250は、マスクおよびウェーハ検査の基準を設定しています。